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技術參數(shù)：

樣品室

樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它

尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)

增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm

單位盤 樣品可大至樣品室大小

10位盤(選購件) 帶自轉(zhuǎn)機構，樣品可大至47mm

20位盤(選購件) 樣品可大至31mm

自動和手動盤 為特種樣品專用的樣品盤，選購件

環(huán)境 空氣、真空(選購件)和充氦(選購件)

激發(fā)

X-光管 超高通量，端窗，RH靶，76um鈹窗，空氣冷卻，其它靶可選

X-光發(fā)生器 4-50KV，1KV間隔。O.02-2.OmA，0.02mA 間隔

濾光片 7種濾光片加1空位，自動選擇

準直器(選購件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種

檢測配置器 Si(Li)電致冷 Si(Li)面積15mm2，分辨率<155 ev

Si(Li)LN Si(Li)面積30mm2，分辨率<149 ev

數(shù)據(jù)采集

數(shù)字脈沖處理器 全部參數(shù)程序控制，自動能量校正

多道脈沖分析器 32位，4096道多道分析器

數(shù)據(jù)接口 計算機以太網(wǎng)接口

分析處理器和WinTrace

計算機／打印機 主流計算機和彩色打印機

顯示 X-射線能譜，重疊譜比較，峰鑒定標記，分析參數(shù)

輸出 監(jiān)視器，圖形打印機和調(diào)制解調(diào)器

自動化 樣品室環(huán)境，X一射線源輸出，濾光片選擇，多次激發(fā)條件，

和樣品選擇

譜處理 自動元素鑒定，數(shù)字濾波本底扣除，*小二乘法經(jīng)驗峰去卷積，

總峰強度，和凈峰強度

分析技術 經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法，歸一化，校正曲線圖顯示

操作系統(tǒng) 微軟WindowsXP及更新的版本

尺寸和重量 外形尺寸 寬71.88cm，高41.15cm，深59.18cm

重量 90.7kg

使用要求

電源 100、115或230VAC，50或60hz，功率1000W，真空泵需2000W

電話 遙控診斷和遙控監(jiān)測需要通過因特網(wǎng)連線

環(huán)境要求

溫度 O～32℃

濕度 20～80％RH(無冷凝水)

參考方法

ASTM方法

D5839-96(2001) X-熒光能譜法測定危險廢燃料中痕量元素的標準測試方法

D6052.97 X-熒光能譜法對液體危險廢料中元素分析的標準測試方法

主要特點：

超大Si(Li) 晶體，具有極高的痕量分析的靈敏度，打破lng的檢測限壁壘

全數(shù)字脈沖處理器技術，死時間達60%， 以及優(yōu)異的峰背比

高級FP無標樣分析軟件，進行無標樣分析，減少對標樣的依賴性

高靈敏電制冷Si(Li) 探測器技術， 儀器免維護和零費用運行

超大樣品室，可容納300mm400mm的樣品

全自動校準，自動監(jiān)測，自動報警系統(tǒng)，完全計算機控制

鍍層和薄膜測量技術， 具有無標樣分析測厚技術

ARL QUANT'X 應用

* 用于美國H.R.4040(HR4040)法規(guī)檢測（2009年8月實施）

【2008年8月14日，美議會第4040號提案（H.R.4040）生效，此法案對美國消費品委員會（CPSC）進行了重新授權， 大大加強了CPSC在保證美國消費品安全中的作用，尤其是對兒童玩具及護理產(chǎn)品的要求達到了****的高度。H.R.4040有幾項重大變化：檢測范圍擴大至玩具上任何可觸及材料；總鉛限呈逐級遞減，由600ppm，2009年8月14日起降至300ppm， 2011年8月14日降至100ppm。而兒童產(chǎn)品中油漆等表面涂層材料的要求更為嚴格，其總鉛限量將在2009年8月14日后銳減至 90ppm。

H.R.4040不僅使玩具業(yè)會面臨更為嚴峻的法律環(huán)境，同時對玩具實驗室也提出了更高的檢測要求。標準的提高對檢測儀器的靈敏度、精度、 連續(xù)穩(wěn)定性也提出了更高的要求?！?

* ROHS檢測、RoHS & WEEE 指令分析 、HR4040標準檢測應對

* 氣溶膠顆粒濾膜

* 刑偵以及痕量分析

* 營養(yǎng)添加劑

* 磁性磁性介質(zhì)和半導體

高性能，操作簡便WinTrace軟件

直觀

功能強大

安全

操作靈活，方便用戶