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NEX QC+

對(duì)于要求苛刻的應(yīng)用，或者分析時(shí)間或樣品通量為關(guān)鍵的情況下，理學(xué)提供新型NEX QC+光譜儀。使用新一代硅探測(cè)器技術(shù)，增強(qiáng)的NEX QC+在元素峰分辨率和計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)中提供顯著改善，從而為**挑戰(zhàn)性的測(cè)量提供高級(jí)校正和測(cè)量精度。

EDXRF的質(zhì)量管理應(yīng)用

理學(xué)公司推出的新型的NEX QC+為常規(guī)的質(zhì)量管理應(yīng)用程序做了特別的設(shè)計(jì)。新型NEX QC+設(shè)計(jì)了一個(gè)操作簡(jiǎn)便且直觀的“圖標(biāo)驅(qū)動(dòng)”觸屏界面，此外，儀器中內(nèi)置打印機(jī)便于使用。

高精度和廣泛的元素范圍

50kV的X射線管和Peltier冷卻半導(dǎo)體檢測(cè)器提供特殊的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期重復(fù)性。該電壓**可達(dá)50kV，與多個(gè)自動(dòng)X射線管濾光片結(jié)合，提供了廣泛的應(yīng)用程序的多功能性和低限制的檢測(cè)（LOD）。

選購(gòu)附件 ― 自動(dòng)樣品轉(zhuǎn)換器、氦氣和FP

選購(gòu)附件包括FP法、自動(dòng)樣品轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)和氦氣凈化器（增強(qiáng)輕元素的靈敏度）。主要特點(diǎn)

·非破壞性分析元素¹¹Na到⁹²U

·適用于固體、液體、合金、粉末和薄膜樣品

·50kV 的X射線管可分析廣泛的元素范圍

·半導(dǎo)體檢測(cè)器可獲得優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)

·現(xiàn)代智能手機(jī)樣式的“圖標(biāo)驅(qū)動(dòng)”用戶界面

·多個(gè)自動(dòng)X射線管濾光片可增強(qiáng)靈敏度

·內(nèi)置熱敏打印機(jī)便于使用

·性價(jià)比高

·選購(gòu)附件FP法