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            Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀
            Nanolink SZ901納米粒度及Zeta電位分析儀

            參考價(jià)格

            20-30萬(wàn)元

            型號(hào)

            Nanolink SZ901

            品牌

            真理光學(xué)

            產(chǎn)地

            中國(guó)珠海

            樣本

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            珠海真理光學(xué)儀器有限公司

            白金會(huì)員

            |

            第7年

            |

            生產(chǎn)商

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              優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品)
            • 分辨率:

              優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品)
            • 重現(xiàn)性:

              優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品)
            • 儀器原理:

              動(dòng)態(tài)光散射
            • 分散方式:

              濕法
            • 測(cè)量時(shí)間:

              10秒
            • 測(cè)量范圍:

              0.3nm-15微米
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            測(cè)量原理

            動(dòng)態(tài)光散射(DLS)、靜態(tài)光散射(SLS)、電泳光散射(ELS)

            粒徑測(cè)量角度

            90°

            粒徑測(cè)量范圍

            0.3nm -15μm*

            粒徑準(zhǔn)確度

            優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品)

            粒徑重復(fù)性

            優(yōu)于±1% (平均粒徑,NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)樣品)

            粒徑測(cè)量*小樣品濃度

            0.1mg/ml

            粒徑測(cè)量*小樣品量

            3ul*

            Zeta電位測(cè)量范圍

            -600mV - +600mV

            **電導(dǎo)率

            270mS/cm

            適用Zeta電位測(cè)量的粒徑

            3nm – 100μm*

            電導(dǎo)率準(zhǔn)確度

            ±10%

            分子量范圍

            340Da-2 x 107Da

            溫度控制范圍

            0°C - 90°C (120°C可選)

            溫度控制精度

            ±0.1°C

            光源

            集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的**功率50mW, 波長(zhǎng)638nm固體激光器

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            高速數(shù)字相關(guān)器,自適應(yīng)通道配置

            檢測(cè)器

            高靈敏度APD

            系統(tǒng)重量

            17kg

            外形尺寸

            365mm x 475mm x 180mm(LxWxH)

            注:* 取決于樣品及樣品池選件

            Nanolink SZ901系列是真理光學(xué)在SZ900基礎(chǔ)上基于多年的科研成果開(kāi)發(fā)的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統(tǒng),采用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進(jìn)行納米粒度測(cè)量和Zeta電位分析,被廣泛應(yīng)用于有機(jī)或無(wú)機(jī)納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質(zhì)等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚傾向性的檢測(cè)和分析。

            Nanolink SZ901的杰出性能和主要特點(diǎn)包括:

            經(jīng)典90°動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測(cè)量粒徑,測(cè)量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

            激光多普勒電泳技術(shù)用于Zeta電位分析,可準(zhǔn)確預(yù)知分散體系的穩(wěn)定性及顆粒團(tuán)聚的傾向性

            加持自動(dòng)恒溫技術(shù)的**功率可達(dá)50mW, 波長(zhǎng)638nm的固體激光光源,儀器即開(kāi)即用

            **的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)

            **的信號(hào)光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)

            集成光纖技術(shù)的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測(cè)器

            常規(guī)溫度控制范圍可達(dá)0°C - 90°C, **可選120°C, 精度±0.1°C

            新一代高速數(shù)字相關(guān)器,動(dòng)態(tài)范圍大于1011

                   ◆ 冷凝控制干燥氣體吹掃技術(shù)


            創(chuàng)新點(diǎn)

            獨(dú)創(chuàng)的激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術(shù)
            獨(dú)創(chuàng)的信號(hào)光與參考光的光纖合束及干涉技術(shù)
            全新相位差法測(cè)量Zeta電位,精度更高更穩(wěn)定

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