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牛津儀器快速掃描電容顯微鏡品牌
牛津產(chǎn)地
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掃描電容顯微鏡(SCM)是一種表征材料納米電學(xué)性質(zhì)的原子力顯微鏡(AFM)成像技術(shù),它使用微波射頻(RF)信號(hào)來(lái)探測(cè)半導(dǎo)體和其它種類(lèi)樣品中的電荷,載流子的位置,摻雜水平和摻雜類(lèi)型(p型和n型)等。全新快速掃描電容顯微鏡 SCM可以在牛津儀器的 Asylum Research 的快速掃描 Cypher 和 Jupiter XR AFM 平臺(tái)上使用。
牛津儀器Asylum Research SCM模式的獨(dú)特之處在于,它不僅可以測(cè)量微分電容(dC/dV),還可以測(cè)量分辨率低至1aF的電容,而且是可以直接測(cè)量電容。與傳統(tǒng)的SCM相比,它具有更高的分辨率和更快的掃描速度。更高的靈敏度允許探測(cè)金屬和絕緣體,以及傳統(tǒng)半導(dǎo)體器件以外的非線性材料——包括那些不形成自然氧化物層的材料。
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您是否已飽受核磁送檢排隊(duì)周期長(zhǎng)、結(jié)果反饋不及時(shí)和反應(yīng)情況無(wú)法隨時(shí)掌握的煎熬?您是否也面臨核磁教學(xué)中學(xué)生只能學(xué)習(xí)理論而無(wú)法親自實(shí)操的窘境?現(xiàn)在X-Pulse寬帶臺(tái)式核磁波譜儀可以完全解決上述問(wèn)題,儀器因