參考價(jià)格
面議型號(hào)
Xplore TEM品牌
牛津產(chǎn)地
英國(guó)樣本
暫無(wú)誤差率:
-分辨率:
-重現(xiàn)性:
-分散方式:
-測(cè)量時(shí)間:
-測(cè)量范圍:
-看了透射電鏡元素分析系統(tǒng)的用戶又看了
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
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Xplore TEM是專門為120kV和200kV 透射電鏡(TEM)的常規(guī)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的元素分析系統(tǒng)。使用新的 80mm2 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準(zhǔn)確的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立體角
從Be到Cf的元素檢測(cè)
可在200,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析
SATW窗口為廣泛的應(yīng)用提供了極大的便利性
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
您是否已飽受核磁送檢排隊(duì)周期長(zhǎng)、結(jié)果反饋不及時(shí)和反應(yīng)情況無(wú)法隨時(shí)掌握的煎熬?您是否也面臨核磁教學(xué)中學(xué)生只能學(xué)習(xí)理論而無(wú)法親自實(shí)操的窘境?現(xiàn)在X-Pulse寬帶臺(tái)式核磁波譜儀可以完全解決上述問(wèn)題,儀器因