誤差率：
無分辨率：
大于0.1nm重現(xiàn)性：
<1%儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
濕法測量時間：
1-10min測量范圍：
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美國MAS粒度Zeta電位分析儀
Zeta電位測量方法有哪些？
Zeta電位又叫電動電位或電動電勢（ζ-電位或ζ-電勢），是指剪切面(Shear Plane)的電位，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。
由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號離子，這些反號離子在兩相界面呈擴散狀態(tài)分布而形成擴散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴散層。當(dāng)分散粒子在外電場的作用下，穩(wěn)定層與擴散層發(fā)生相對移動時的滑動面即是剪切面，該處對遠(yuǎn)離界面的流體中的某點的電位稱為Zeta電位或電動電位（ζ-電位）。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢差。它可以通過電動現(xiàn)象直接測定。
測量Zeta電位的方法主要有：
電泳法-當(dāng)電場施加于電解質(zhì)時，懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極，作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運動。當(dāng)這兩種對抗力達到平衡時，粒子以恒定的速度運動，我們一般稱這個速度通為電泳遷移率。
電滲法-單位場強下的液體移動速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢成簡單的正比關(guān)系，所以可以利用電滲來測量ξ電勢，但此法只限于能形成毛細(xì)管或多孔介質(zhì)的材料。
流動電位法-流動電勢是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個帶電荷的絕緣表面流動時，表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動方向運動，這些帶電荷粒子的運動導(dǎo)致下游積累電荷，在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動電勢。
超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓，帶點粒子運動會產(chǎn)生聲波，測量所產(chǎn)生的聲波，就可以計算顆粒的動態(tài)遷移率，后通過計算得到Zeta電位
美國MAS粒度Zeta電位分析儀
典型應(yīng)用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。
主要特點：
1）能分析多種分散物的混合體；
2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點；
3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
4）可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
5）可精確測量無水體系；
6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進行電位測量；
7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
8）具有自動電位滴定功能；
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋；
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
3)不需定標(biāo)；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
美國MAS粒度Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需定標(biāo)；
2)能測更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需稀釋，固合量高達60%；
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測量；
6)對流(convection)不影響測量；
7)可精確測量無水體系；
技術(shù)參數(shù)：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；
2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m
可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。
對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
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