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JEM-ARM300F GRAND ARM品牌
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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡
JEM-ARM300F實(shí)現(xiàn)了世界**掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,**加速電壓可達(dá)300kV,是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了世界**的STEM-HAADF像分辨率。
實(shí)現(xiàn)了世界**掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率
JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器,**加速電壓可達(dá)300kV,是一款原子級(jí)分辨率電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)了世界**的STEM-HAADF像分辨率。
STEM-HAADF像的保證分辨率達(dá)到了****的58pm
采用JEOL自主研發(fā)的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達(dá)58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時(shí))。
ETA校正器 JEOL自主研發(fā)的12極球差校正器 ※選配件
ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發(fā)的擴(kuò)展軌道型12極球差校正器。可以在用戶現(xiàn)場(chǎng)加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。
強(qiáng)大的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍HyperCF300
標(biāo)配了全新設(shè)計(jì)的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。
兩種物鏡極靴
為了支持用戶廣泛的需求,研發(fā)了兩種各具特點(diǎn)的物鏡極靴。
豐富的選購(gòu)件
能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測(cè)器及四種STEM觀察檢測(cè)器。
大范圍的加速電壓設(shè)置
標(biāo)配300kV和80kV下的球差校正數(shù)據(jù),可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。
新開(kāi)發(fā)的真空系統(tǒng)
新的排氣系統(tǒng)達(dá)到了極高的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,**限度地減輕了對(duì)樣品的污染和損傷。
高穩(wěn)定的鏡筒和樣品臺(tái)
整體穩(wěn)定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機(jī)械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩(wěn)定的技術(shù)基礎(chǔ)之上,把電氣穩(wěn)定性和對(duì)環(huán)境的抗干擾能力提高到新高度。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!