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        Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀
        Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        Omni

        品牌

        產(chǎn)地

        樣本

        暫無(wú)
        北京世紀(jì)朝陽(yáng)科技發(fā)展有限公司

        高級(jí)會(huì)員

        |

        第7年

        |

        代理商

        工商已核實(shí)

        留言詢(xún)價(jià)
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        • 測(cè)量范圍:

          0.3nm~10μm
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        產(chǎn)品名稱(chēng):Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
        產(chǎn)品型號(hào):
        產(chǎn)品描述:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀**結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性
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        產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

            Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀**結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量,是目前市場(chǎng)上功能*強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

        詳細(xì)說(shuō)明:

            作為*先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠(chǎng)家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了**結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,**可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,徹底解決了長(zhǎng)期以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能*強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

        NanoBrook產(chǎn)品系列

         

         

        項(xiàng)目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度測(cè)量功能●●●○分子量測(cè)量功能●●●○Zeta電位測(cè)量功能○○●● 技 術(shù) 參 數(shù)散射角15°與173°15°、90°與173°○粒度范圍0.3nm-10μm○分子量測(cè)定范圍342~2×107Dalton○相關(guān)器4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線(xiàn)性通道○Zeta電位適用粒度范圍○1nm~100μmZeta電位范圍○-500mV~500mV電導(dǎo)率范圍○0-30S/m電泳遷移率范圍○10-11~10-7m2/V.s電極○開(kāi)放式**型電極系統(tǒng)參數(shù)溫控范圍與精度-5~110℃,±0.1℃激光源40mW光泵半導(dǎo)體激光器檢測(cè)器PMT或APD分析軟件Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件大小及重量233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg選 件BI-ZTU自動(dòng)滴定儀可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖BI-870介電常數(shù)儀直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值BI-SV10粘度計(jì)用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度

         

        ●代表“有”  ○代表“無(wú)”

         

        典型應(yīng)用  

        1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

        2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

        3.多糖、藥物制備

        4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

        5.油包水、水包油體系

        6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

        7.食品、化妝品配方

        8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

         

        應(yīng)用案例

            不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響          不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響         Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

            通過(guò)調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)

         

        技術(shù)參數(shù)

        1.粒度測(cè)量范圍:0.3nm~10μm

        2.Zeta電位測(cè)量適用粒度范圍:1nm~100μm

        3.樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))

        4.典型精度:1%

        5.樣品類(lèi)型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

        6.樣品體積:1~3ml

        7.分子量測(cè)定范圍:342~2×107Dalton

        8.Zeta電位范圍:-500mV~500mV

        9.電導(dǎo)率范圍:0~30S/m

        10.電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s

        11.電場(chǎng)強(qiáng)度:0 ~ 60 kV/m

        12.電極:**性開(kāi)放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)

        13.溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

        14.pH測(cè)量范圍:1-14

        15.激光源:40mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)

        16.檢測(cè)器:高靈敏雪崩型二極管(APD)

        17.相關(guān)器:4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線(xiàn)性通道,采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配

        18.自動(dòng)趨勢(shì)分析:對(duì)時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

        19.散射角:15°、90°與173°

        20.室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無(wú)冷凝

        21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

        22.電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

        23.計(jì)算機(jī)(選件):商用計(jì)算機(jī),包括WindowTM軟件

        24.自動(dòng)滴定儀(選件):獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng),可對(duì)pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖


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        10分

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        10分

        性?xún)r(jià)比

        10分
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