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?掃描電鏡論文賞析論文標(biāo)題：The transcription factor PtoMYB142 enhances drought tolerance in Populus tomentosa by regulating gibberellin catabolism（PtoMYB142 通過調(diào)控赤霉素

?上一篇文章我們簡單的認(rèn)識(shí)了干法氣溶膠納米打印技術(shù)，一種基于氣溶膠的直寫方法能夠?qū)崿F(xiàn)具有獨(dú)特性能的無機(jī)納米結(jié)構(gòu)材料的打印直寫。那么本篇文章我們來簡單介紹一下干法氣溶膠納米打印技術(shù)可以用在哪些領(lǐng)域？使用納米印刷沉積系統(tǒng)，可以自動(dòng)的打印不同成分和/或?qū)雍竦募{米多孔材料。在電催化、氣體傳感器和 SERS 領(lǐng)

?增材制造的方法，如納米打印可以大大簡化高比表面積的納米多孔薄膜的制備工藝。這種薄膜材料的應(yīng)用很多，包括電催化、化學(xué)、光學(xué)或生物傳感以及電池和微電子產(chǎn)品制造等。 因此，一種基于氣溶膠的直寫方法能夠?qū)崿F(xiàn)具有獨(dú)特性能的無機(jī)納米結(jié)構(gòu)材料的打印直寫。 印刷涂層的顆粒由 納米粒子發(fā)生器產(chǎn)生，經(jīng)火花燒蝕產(chǎn)生的氣溶

?在材料研發(fā)的過程中，檢測(cè)材料的形貌細(xì)節(jié)和品質(zhì)，需要全方位地了解樣品。掃描電鏡是科學(xué)研究過程中強(qiáng)有力的表征工具，高分辨成像可以揭示材料細(xì)節(jié)。現(xiàn)在一些比較高端的掃描電鏡可以提供一種先進(jìn)的成像技術(shù)--透射模式（Scanning transmission eletron microscopy，STEM），這

?近年來，隨著前沿生物技術(shù)的發(fā)展和精密儀器的引入，農(nóng)業(yè)領(lǐng)域的研究取得了許多突破性進(jìn)展和成果。顯微 CT 技術(shù)以 X 射線成像為原理，為研究人員提供了一種強(qiáng)大的工具，能夠深入探究農(nóng)作物、植物和土壤的微觀世界，為農(nóng)業(yè)科學(xué)研究和生產(chǎn)帶來新的視角與方法。01顯微CT技術(shù)簡介 顯微 CT 技術(shù)利用 X 射線照

?在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中，觀察和理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)是至關(guān)重要的。原位透射電鏡允許研究人員在實(shí)時(shí)觀察和操控樣品的條件下進(jìn)行高分辨率成像和表征。并能夠?qū)崿F(xiàn)直接從原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及在化學(xué)反應(yīng)過程中研究材料的結(jié)構(gòu)和行為，并直接觀察相變、位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)、晶體生長等動(dòng)態(tài)過程。前面我們已經(jīng)簡

?【掃描電鏡原理】低加速電壓成像掃描電鏡的加速電壓與束流強(qiáng)度對(duì)成像有著決定性的影響。通常來說，操作人員更愿意使用更高的加速電壓去成像，當(dāng)加速電壓較大時(shí)，信噪比更好，分辨率更高，更容易得到“清晰”的圖像。但低加速電壓卻是當(dāng)今掃描電鏡的發(fā)展趨勢(shì)，這是什么原因呢？今天，這篇文章將圍繞“低加速電壓成像”展開討

?原位樣品桿知識(shí)：一文了解原位透射電鏡技術(shù)的發(fā)展歷程前面我們簡單介紹了原位透射電鏡技術(shù)和原位透射電鏡技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域，更好的了解原位透射技術(shù)，本文簡要梳理其在 1960-1990 期間的發(fā)展歷程： 原位透射電子顯微技術(shù)（in-situ TEM）起源于 20世紀(jì) 60 年代。 1960 年代：研究人員開始

?原子層沉積技術(shù)（ALD）是一種一層一層原子級(jí)生長的薄膜制備技術(shù)。理想的 ALD 生長過程，通過選擇性交替，把不同的前驅(qū)體暴露于基片的表面，在表面化學(xué)吸附并反應(yīng)形成沉積薄膜。由于前驅(qū)體和共反應(yīng)物與基底表面基團(tuán)的反應(yīng)具有自限性，因此理想情況下每個(gè)循環(huán)沉積的材料量相同。通過進(jìn)行一定數(shù)量的 ALD 循環(huán)，可

?掃描電鏡原理：元素與掃描電鏡及能譜儀的聯(lián)系相信大家都知道掃描電鏡的背散射電子（BSE），背散射電子是被固體樣品中的原子核反彈回來的一部分入射電子。其中包括彈性背散射電子和非彈性背散射電子。大家可以這樣想象：當(dāng)我們用乒乓球（入射電子）砸向石頭（原子核）時(shí)，乒乓球便會(huì)被反彈回來，反彈回來的這些乒乓球便是

?原位樣品桿知識(shí)：一文了解原位透射電鏡技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域上一篇我們簡單介紹了原位透射電鏡技術(shù)允許研究人員在實(shí)時(shí)觀察和操控樣品的條件下進(jìn)行高分辨率成像和表征。并能夠?qū)崿F(xiàn)直接從原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及在化學(xué)反應(yīng)過程中研究材料的結(jié)構(gòu)和行為，并直接觀察相變、位錯(cuò)運(yùn)動(dòng)、晶體生長等動(dòng)態(tài)過程。通過 i

?原位樣品桿知識(shí)：一文認(rèn)識(shí)原位透射電鏡技術(shù)在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中，觀察和理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)是至關(guān)重要的。我們通過幾個(gè)方面梳理原位透射電鏡技術(shù)的概念、發(fā)展和應(yīng)用等方面來更好的幫助大家認(rèn)識(shí)原位透射電子顯微技術(shù)。傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡（transmission electron microscopy，簡

?優(yōu)秀論文賞析原位樣品桿 | 《Energy Storage Materials》對(duì)退化NCM 正極材料直接再生機(jī)制的多尺度觀察 復(fù)納科技2024年度優(yōu)秀論文賞析 參賽人：南昌大學(xué) 邢春賢獲獎(jiǎng)?wù)撐模篗ultiscale observations on mechanisms for direct reg

?X 射線成像技術(shù) I 一文了解工業(yè) CT 與顯微 CT 的區(qū)別引言 X 射線是一種高能電磁波，由威廉·康拉德·倫琴于 1895 年發(fā)現(xiàn)。X 射線具有波長短、穿透性強(qiáng)、電離能力強(qiáng)、肉眼雖不可見但能被探測(cè)器記錄和成像等特點(diǎn)，最初被用于醫(yī)學(xué)影像學(xué)，幫助醫(yī)生診斷骨折、腫瘤和內(nèi)部器官異常。隨著科技進(jìn)步，X 射

?生物醫(yī)用材料案例分享生物醫(yī)用材料是用來對(duì)生物體進(jìn)行診斷、治療、修復(fù)或替換其病損組織、器官或增進(jìn)其功能的材料。它是研究人工器官和醫(yī)療器械的基礎(chǔ)，已成為當(dāng)代材料學(xué)科的重要分支，尤其是隨著生物技術(shù)的蓬勃發(fā)展和重大突破，生物醫(yī)用材料已成為各國科學(xué)家競(jìng)相進(jìn)行研究和開發(fā)的熱點(diǎn)。人類利用生物醫(yī)用材料的歷史與人類歷

?大塊放氣樣品測(cè)試就是這么簡單最近很多朋友進(jìn)行掃描電鏡測(cè)試時(shí)，關(guān)于大塊樣品（特別是大塊多孔樣品）的測(cè)試都遇到了這樣的一個(gè)問題： 電鏡抽真空要花很長時(shí)間（半個(gè)小時(shí)以上），甚至抽不上。 導(dǎo)致這種情況的發(fā)生主要是由于大塊樣品本身往往存在大量的氣孔，放入掃描電鏡中，這些氣孔會(huì)放氣，而電鏡的真空系統(tǒng)要想把這些氣

?掃描電鏡樣品的制備對(duì)顯微圖像的效果影響非常大。如果制備的樣品不適合電鏡的觀察條件，即使掃描電鏡性能再好也難以得到高質(zhì)量的圖片和準(zhǔn)確的分析結(jié)果。通常來說，對(duì)于不導(dǎo)電樣品，如紙張、塑料、陶瓷等，工程師都建議對(duì)其鍍膜噴金，這是什么原因呢？增強(qiáng)導(dǎo)電性 非導(dǎo)電性樣品絕緣電阻非常大，在電子束持續(xù)掃描下，樣品表面

?前面我們介紹了在纖維表面沉積納米材料的多種方式和實(shí)現(xiàn)顆粒物的收集的四種機(jī)制，今天我們介紹一下火花燒蝕技術(shù)的主要應(yīng)用在哪些行業(yè)中正因?yàn)闅馊苣z沉積技術(shù)的獨(dú)特性，不少科學(xué)家利用該方法制備了不同類型的功能纖維材料，而該技術(shù)簡便環(huán)保的特性更讓其成為理想的工業(yè)生產(chǎn)方法。荷蘭 VSParticle 公司率先推出了

?掃描電鏡和透射電鏡的區(qū)別電子顯微鏡已經(jīng)成為表征各種材料的有力工具。 它的多功能性和極高的空間分辨率使其成為許多應(yīng)用中非常有價(jià)值的工具。 其中，兩種主要的電子顯微鏡是透射電子顯微鏡（TEM）和掃描電子顯微鏡（SEM）。 在這篇博客中，將簡要描述他們的相似點(diǎn)和不同點(diǎn)。掃描電鏡和透射電鏡的工作原理從相似點(diǎn)

?前面我們介紹了在纖維表面沉積納米材料的多種方式，本文主要介紹四種機(jī)制實(shí)現(xiàn)顆粒物的收集?；鸹g利用的是大氣壓等離子火花放電，從而將導(dǎo)電的靶材燒蝕產(chǎn)生納米氣溶膠。通過氣流的控制可以實(shí)現(xiàn)顆粒粒徑的控制，在過濾的機(jī)制下實(shí)現(xiàn)沉積，而在過濾作用發(fā)生效果的過程中，主要有四種機(jī)制實(shí)現(xiàn)顆粒物的收集：01擴(kuò)散作用 擴(kuò)

?引言 INTRODUCTION堿性水電解作為一種重要的電化學(xué)反應(yīng)，可作為大規(guī)模產(chǎn)生氫氣的可行候選方式（僅次于質(zhì)子交換膜）。通過對(duì)水電解催化劑進(jìn)行篩選，可制備與傳統(tǒng)方式相比更為高效的電極材料，從而確定下一步研發(fā)所需的材料體系。為此，Avantium Chemicals BV 與荷蘭 VSParticl

?鋰電池電極由各種類型的粉末制備合成，對(duì)粉末材料表面進(jìn)行包覆已經(jīng)成為提高電池性能的有效策略。尤其在固態(tài)電池中，固體電解質(zhì)顆粒(SSA) 和電極組合之間的界面兼容性問題仍然存在，通過界面涂層可有效地解決這一問題。因此，電極表面工程作為一項(xiàng)新興技術(shù)，有望提高電池的性能和安全性。原子層沉積(ALD)技術(shù)已被

?在上篇文章中，我們介紹了原子層沉積（ALD）方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層（PC）和極片涂層（DC）兩種不同的改性策略。ALD 方法對(duì)于電極材料的改善有目共睹，但涂層的選擇以及設(shè)備的選擇是關(guān)鍵。極片涂層依賴卷對(duì)卷設(shè)備和苛刻的低溫要求。粉末包覆更適合從源頭進(jìn)行界面的改善。本篇文章我們將介紹粉末原

?纖維表面沉積納米材料的方式納米顆粒尤其是無機(jī)納米粒子在催化，能源，生命科學(xué)以及傳感等領(lǐng)域都表現(xiàn)出了卓越的性能，從而受到廣泛的關(guān)注。由于納米材料本身的特性，為了保證在實(shí)際使用時(shí)的穩(wěn)定性與長效性，一般會(huì)采用將納米粒子以負(fù)載或原位構(gòu)筑的方式與基底材料結(jié)合，從而獲得負(fù)載型催化劑，導(dǎo)電織物等改性材料。通過與納

?PHENOM用戶見證 - 上海精準(zhǔn)醫(yī)學(xué)研究院近期飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描透射電子顯微鏡 Phenom Pharos G2 STEM 在上海精準(zhǔn)醫(yī)學(xué)研究院（以下簡稱精準(zhǔn)院）電鏡平臺(tái)成功落戶，完成裝機(jī)驗(yàn)收。精準(zhǔn)院電鏡中心成立于 2017 年 11 月。配備有 3 臺(tái)高端冷凍透射電鏡（cryo-TEM）。其中包

?隨著時(shí)代的進(jìn)步，對(duì)于材料的要求也越來越高。就金屬材料而言，提高鋼鐵的冶煉質(zhì)量，改善夾雜物大小、數(shù)量及分布，可以提高金屬材料的品質(zhì)。今天我們有幸采訪到鋼研納克失效分析中心的專家李云玲老師，一起聊一聊金屬夾雜物的話題。 鋼研納克失效分析中心李云玲 高級(jí)工程師從事金屬材料微觀表征工作 10 余年，主要研究

?臺(tái)式掃描電鏡:為什么選擇CeB6燈絲如果你正在調(diào)研掃描電鏡（SEM），你可能已經(jīng)知道，燈絲是電鏡中最重要的部分之一。在這篇博客，我們將仔細(xì)討論鎢燈絲和CeB6燈絲。如何選擇掃描電鏡燈絲？對(duì)于不同的燈絲，就性能而言，場(chǎng)發(fā)射（FEG）掃描電鏡圖像的分辨率是最高的。但是就電鏡的日常使用而言，最重要的一點(diǎn)還

?談起來清潔度的分析，光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是清潔度分析領(lǐng)域常用的兩種儀器，那么這兩種分析方法有什么區(qū)別呢？從使用條件來看光學(xué)顯微鏡的信號(hào)源是可見光，可見光的波長較長，可以輕松繞過空氣分子，因此可以在大氣環(huán)境下運(yùn)行。掃描電鏡的信號(hào)源是電子束，相對(duì)于可見光，電子束的波長更短，所以分辨率更高，圖像更清晰；

?引言隨著科技的飛速發(fā)展，顯微 CT 技術(shù)在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用愈發(fā)廣泛，尤其是在增材制造和粉末冶金領(lǐng)域。顯微 CT 技術(shù)以其高分辨率、非破壞性的特點(diǎn)，為微觀層面的材料結(jié)構(gòu)和缺陷分析等提供了獨(dú)特的解決方案，為增材制造和粉末冶金行業(yè)的發(fā)展注入了新的活力。Part 01.什么是顯微 CT？顯微 CT 技術(shù)利用

?應(yīng)用分享：低能離子束精修 FIB 樣品引言使用 FIB 切削獲得超薄樣片(lamella)，是一種常見的塊體材料 TEM 制樣方法。然而，鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅(qū)散的迷霧，阻礙著人們獲得更高質(zhì)量的 TEM 照片，進(jìn)而也限制了對(duì)輕元素的量化分析。Part 01低能氬離子精修非晶層精