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雙電測電四探針方阻電阻率測試儀的概括
一.應用說明Widely used:
覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
雙電測電四探針方阻電阻率測試儀的概括
二.描述Description:
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.
雙電測電四探針方阻電阻率測試儀的概括
三.參數(shù)資料Parameters
規(guī)格型號/ model | FT-341 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-5~2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-6~2×106Ω-cm |
3.測試電流Test current | 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA |
4.電流精度Current | ±0.1% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測試方式 | test mode雙電測量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.誤差errors | ≤3%(標準樣片結(jié)果)(standard samples) |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測試探頭test probe | 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
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