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        麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司

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        【邀請(qǐng)函】—顆粒、粉體、膜(P3)分析與表征技術(shù)上海研討會(huì)

        【邀請(qǐng)函】—顆粒、粉體、膜(P3)分析與表征技術(shù)上海研討會(huì)
        美國(guó)麥克儀器  2019-07-29  |  閱讀:1400

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        材料表征領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者M(jìn)icromeritics麥克儀器公司將舉辦《顆粒、粉體、膜(P3)的分析與表征技術(shù)研討會(huì)》,分享國(guó)際領(lǐng)先的材料表征技術(shù)及實(shí)際應(yīng)用,為用戶的材料分析與表征提供完整性解決方案。誠(chéng)摯邀請(qǐng)您出席本次研討會(huì)!

        時(shí)間:2019年9月19日全天

        地點(diǎn):上海浦東(待定)

        費(fèi)用:免費(fèi)

        內(nèi)容:

        顆粒、粉體、膜的特性與綜述;

        顆粒粒度分析:電阻法,X沉降法與亞篩分法

        顆粒形態(tài)分析:動(dòng)態(tài)圖像法

        顆粒粉體分析的樣品制備:取樣,縮樣與分散

        孔徑分析:氣液與液液孔徑分析方法

        粉體流動(dòng)性分析

        咨詢電話:021-51085884-807


        研討會(huì)主要主講人:

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