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在激光粒度儀的日常應(yīng)用中，經(jīng)常會遇到一個問題，即測試結(jié)果出現(xiàn)了偏差，或者不同廠家不同型號儀器對同一粉體測量結(jié)果不同。在了解激光粒度儀測量原理和粒徑的等效概念（參考本文后附介紹）前提下，以下試述造成此現(xiàn)象的一些主要原因和解決方法：

儀器光學(xué)設(shè)計影響粒度測試結(jié)果

不同廠家，以及不同型號的激光粒度儀產(chǎn)品，其設(shè)計往往不同，例如不同的光學(xué)設(shè)計（例如直線式光路設(shè)計和折疊式光路設(shè)計，透鏡后/前傅立葉變換，激光光束大小等），不同尺寸、焦距規(guī)格的傅立葉透鏡，不同的探測器數(shù)量和分布以及其靈敏度和噪音水平，不同規(guī)格的光學(xué)部件等都會造成相同顆粒所得到的光能分布的差異。

同樣的道理，如果測量儀器光路或光學(xué)器件出現(xiàn)了狀態(tài)變化也會引起結(jié)果的偏差。

光能分布反演算法影響粒度測試結(jié)果

在實(shí)際測試中，儀器獲得信號是復(fù)合的，即一次探測獲取信號是多個顆粒信號疊加的結(jié)果?；诓煌筋w粒光能分布特性，用特定算法將復(fù)合信號拆分開來，得到所檢測多個顆粒的粒徑。由于不同探測器信號差別巨大（大顆粒散射光強(qiáng)度遠(yuǎn)大于小顆粒），且有光源不穩(wěn)定，背景噪音等因素的影響，對軟件算法的要求也非常高。因?yàn)椴煌吞柟鈱W(xué)設(shè)計和探測器分布是不同的，因此軟件算法也必然不同。在反演計算過程中會出現(xiàn)結(jié)果的不同。

雖然有以上兩種主要原因的影響，不同粒度儀通常會采用球形標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，例如已知粒徑的玻璃微珠，乳膠顆粒等進(jìn)行標(biāo)定，理論上應(yīng)該都能準(zhǔn)確測出它們的真實(shí)粒徑。但在自然界中的顆粒通常是不規(guī)則的，即非標(biāo)準(zhǔn)球形，在不同硬件設(shè)計的儀器條件下，粒徑等效的條件是有差異的，加之反演算法也不盡相同，如此即會造成測量結(jié)果的不同。一般來說，不同的粒度儀器，對同一樣品得到不同粒度測量結(jié)果，只要這些結(jié)果在可信的范圍內(nèi)都是正常的（除非是標(biāo)準(zhǔn)球形樣品），都是對樣品粒徑真實(shí)性的反映。

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測試條件的差異影響粒度測試結(jié)果

在實(shí)際激光粒度儀測試過程中，存在例如取樣代表性、儀器對中調(diào)節(jié)、光學(xué)參數(shù)及樣品循環(huán)參數(shù)設(shè)定，分散介質(zhì)、分散劑、穩(wěn)定劑的選擇和質(zhì)量，樣品處理步驟等多種人為因素，以及溫度變化，電源穩(wěn)定性，震動等客觀因素，都會造成測量結(jié)果的差異。

綜上所述：由于所有非球形物體，其粒度事實(shí)上沒有絕對真值，依據(jù)等效定義的方式不同，其“真值”就是不同的。在粒度儀的選擇上，用戶通常首先想到的是測得準(zhǔn)不準(zhǔn)，但是如前所述，粒度測量其實(shí)并不存在“準(zhǔn)”這個概念。

在粒度儀用來指導(dǎo)生產(chǎn)的實(shí)踐中，測試結(jié)果的重現(xiàn)性（以評估取樣、分散、測試穩(wěn)健性）、分辨能力（以評估分辨樣品之間細(xì)微差異的能力）是更具質(zhì)控的實(shí)際意義的，且可以依據(jù)這些信息衡量測試結(jié)果的精確程度并把控可能潛在的質(zhì)量風(fēng)險大小。

如何建立粉體粒徑質(zhì)控體系及

上下游結(jié)果比對的一些建議

鑒于不同粒度測試設(shè)備測試結(jié)果不一樣的現(xiàn)狀，非球顆粒粒徑無真值且質(zhì)控的目的是鑒定生產(chǎn)樣和標(biāo)準(zhǔn)樣的差異，因此，確定粉體質(zhì)控標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù)宜采用以符合上下游企業(yè)認(rèn)定的參考樣品在自己所擁有的某型號儀器的測量結(jié)果作為參照進(jìn)行質(zhì)控。以具體樣品傳遞質(zhì)量信息，比以從其他方某一型號粒度儀的粒度分布報告?zhèn)鬟f的信息更科學(xué)可靠，可以避免由于對激光粒度儀不了解造成的分歧和誤解。

保證生產(chǎn)順暢的運(yùn)轉(zhuǎn)而提高產(chǎn)品一致性，或確保企業(yè)生產(chǎn)產(chǎn)品從研發(fā)到小試及大規(guī)模生產(chǎn)的質(zhì)量一致性，需要企業(yè)內(nèi)良好的質(zhì)控體系的建立。以下幾點(diǎn)都是非常重要的考慮因素：選擇滿足應(yīng)用需求的分辨能力的粒度儀，進(jìn)行穩(wěn)健的測試方法開發(fā)，以SOP標(biāo)準(zhǔn)化測試流程進(jìn)行樣品測試，同時留存/設(shè)計符合產(chǎn)品的參考樣品經(jīng)常驗(yàn)證儀器和方法的有效性（借助參考樣可以隨時了解儀器狀態(tài)，協(xié)助判斷取樣分散等測試條件是否發(fā)生變化）。粉體的應(yīng)用特性除受粒徑影響，還與粉體顆粒表面特性、形貌特征、晶體結(jié)構(gòu)、純度等多種因素相關(guān)，宜結(jié)合其他方法綜合評價對防范風(fēng)險更有助益。

需要注意的是，市面上部分儀器對于可能出現(xiàn)的儀器狀態(tài)的變化而產(chǎn)生測試結(jié)果的偏移，采用某一指定標(biāo)準(zhǔn)品進(jìn)行所謂的“校準(zhǔn)”，從軟件上將測試結(jié)果“修正”到標(biāo)準(zhǔn)品的標(biāo)稱值。此做法在一定程度上掩蓋了儀器或測試方法上出現(xiàn)的影響測試結(jié)果的問題，對于非此標(biāo)準(zhǔn)品的實(shí)際樣品測試并不能得到同樣的“修正”，對質(zhì)控存在巨大的風(fēng)險。

我們建議粒度儀用戶采用與平時測試樣品粒度和形貌相近的不易隨時間變化的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行儀器狀態(tài)的“驗(yàn)證”，以此快速判斷測試結(jié)果出現(xiàn)的偏差是由儀器或是測試方法（例如介質(zhì)變化、分散條件差異等）造成的，從而借助儀器公司的服務(wù)和測試方法驗(yàn)證等手段，在根源上解決遇到的問題，如此就可以避免測量偏差被所謂的“校準(zhǔn)”不斷地掩蓋和放大，以致可能造成巨大的質(zhì)量風(fēng)險。

激光散射法粒度測量原理

當(dāng)光線照射到顆粒上時會發(fā)生散射（衍射），其散射（衍射）光強(qiáng)度、散射（衍射）光角度分布與顆粒的大小有關(guān), 因此應(yīng)用Mie散射理論、夫瑯禾費(fèi)衍射理論對儀器探測到光信號反演計算即可求得測量粉體粒徑分布。

粒徑的概念及各原理中粒徑等效假設(shè)的不同

顆粒的大小稱為“粒徑”，也有文獻(xiàn)或測量報告中稱為“粒度”或者“直徑”。如果顆粒是球形的，其粒徑的物理含義是非常清楚的。然而對于絕大多數(shù)粉體材料，形狀是不規(guī)則的，為了表征不規(guī)則顆粒的大小，通常的“粒徑”定義如下：當(dāng)被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質(zhì)球體（或組合）最相近時，就把該球體的直徑（或組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。激光粒度儀正是通過將實(shí)測顆粒的散射光能分布最接近的某一個或一組的球的直徑當(dāng)做實(shí)際顆粒的等效粒徑，是一種散射光學(xué)上的等效。

在不同原理的儀器進(jìn)行粒度測量時，由于采用的等效物理特性或物理行為標(biāo)準(zhǔn)不同，所得出的結(jié)果也各不相同。除了上述的散射光能分布等效外；圖像法可根據(jù)不同需要選用等面積圓、等效長/短徑等進(jìn)行等效；庫爾特電阻法采用顆粒體積進(jìn)行等效等等。