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光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備品牌
知常光電產(chǎn)地
安徽樣本
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光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備 | |
型號(hào) | LDT-2000-C |
測(cè)量波長(zhǎng) | 193nm、355nm、532nm、1064nm或其他客戶(hù)定制波長(zhǎng) |
激光脈寬 | ~10ns |
**測(cè)試激光通量 | ≥100J/cm2 |
損傷點(diǎn)識(shí)別率 | ≥95% |
樣品尺寸 | ≤150mm x 150mm(L x W)或客戶(hù)定制 |
光學(xué)元件激光損傷檢測(cè)及預(yù)處理設(shè)備(LDT-2000-C),主要用于測(cè)試光學(xué)元件的激光損傷閾值以保證放置于光路中的各類(lèi)光學(xué)元件的強(qiáng)激光負(fù)載性能,應(yīng)用范圍包括光學(xué)元件激光損傷測(cè)試、體材料激光損傷測(cè)試鍍膜工藝優(yōu)化等。
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