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核心技術：
**光學設計達到業(yè)界*低信噪比
**AI影像比對技術，漏檢率達到*低
結合光學及影像處理技術，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物
先進性：
采用**雙非球面鏡頭設計，搭配光學系統(tǒng)設計以及AI影像比對技術，顯著提升AOI設備3D檢測能力，Z軸解析度可達2um，漏檢率低至<0.3%。
技術完全自主，可根據(jù)客戶需求針對不同產(chǎn)品檢測做定制化設計，協(xié)助客戶達到高良率與**品質
簡介： 核心技術： **光學設計達到業(yè)界*低信噪比 **AI影像比對技術，漏檢率達到*低 結合光學及影像處理技術，在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物 先進性： 采用**雙非球面鏡頭設計，搭配光學系統(tǒng)設計以及AI影像比對技術，顯著提升AOI設備3D檢測能力，Z軸解析度可達2um，漏檢率低至<0.3%。 技術完全自主，可根據(jù)客戶需求針對不同產(chǎn)品檢測做定制化設計，協(xié)助客戶達到高良率與**品質
品牌： Honhor
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