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GeminiSEM 系列產(chǎn)品

高對比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

為對任意樣品進行高水準(zhǔn)的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息，其創(chuàng)新設(shè)計的NanoVP可變壓力模式，甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺；

更強的信號，更豐富的細(xì)節(jié)

GeminiSEM 500 為您呈現(xiàn)任意樣品表面更強的信號和更豐富的細(xì)節(jié)信息，尤其在低的加速電壓下，在避免樣品損傷的同時快速地獲取更高清晰度的圖像。

• 經(jīng)優(yōu)化和增強的Inlens探測器可高效地采集信號，助您快速地獲取清晰的圖像，并使樣品損傷降至更低；

• 在低電壓下?lián)碛懈叩男旁氡群透叩囊r度，二次電子圖像分辨率1 kV達(dá)0.9nm，500 V達(dá)1.0 nm，無需樣品臺減速即可進行高質(zhì)量的低電壓成像，為您呈現(xiàn)任意樣品在納米尺度上更豐富的細(xì)節(jié)信息；

• 應(yīng)用樣品臺減速技術(shù)-（Tandem decel），可在1 kV下獲得高達(dá)0.8nm二次電子圖像分辨率；

• 創(chuàng)新設(shè)計的可變壓力模式-NanoVP技術(shù)，讓您擁有身處在高真空模式下工作的感覺。

洞察產(chǎn)品背后的科技

Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)

Gemini 1類型鏡筒 -延續(xù)創(chuàng)新和發(fā)展

如今，掃描電子顯微鏡（SEM）在低電壓下的高分辨成像能力，已成為其在各項應(yīng)用領(lǐng)域中的標(biāo)準(zhǔn)配置。

低電壓下的高分辨率成像能力，在以下應(yīng)用領(lǐng)域中扮演著尤為重要的角色：

• 電子束敏感樣品

• 不導(dǎo)電樣品

• 獲取樣品極表面的真實形貌信息

Gemini的革新電子光學(xué)設(shè)計，應(yīng)用高分辨率電子槍模式、Nano-twin lens物鏡(GeminiSEM 500)、以及Tandem decel樣品臺減速技術(shù)（選配），有效提高了在低電壓時的信號采集效率和圖像襯度。

• 高分辨率電子槍模式：

• 縮小30%的出射電子束能量展寬，有效地降低像差；

• 獲得更小的束斑。

• Nano-twin lens物鏡：

優(yōu)化靜電場和磁場的復(fù)合功效，在低電壓下具有的更高的分辨率；

提高鏡筒內(nèi)Inlens探測器在低電壓下的信號采集效率。

• Tandem decel樣品臺減速技術(shù)，進一步提高對適用樣品在低電壓甚至極低電壓下的分辨率：

• Tandem decel減速技術(shù)將鏡筒內(nèi)減速和樣品臺偏壓減速技術(shù)相結(jié)合，有效地實現(xiàn)低著陸電壓；

• 使用1 kV及以下更低電壓時，鏡筒內(nèi)背散射探測器的檢測效率獲得更好地增強，低電壓下的分辨率得到進一步提高。

• 對適用的樣品可以加載高達(dá)-5 kV的樣品臺偏壓，在低電壓下獲得更高質(zhì)量的圖片

• 優(yōu)化靜電場和磁場的復(fù)合功效，在低電壓下具有的更高的分辨率；

• 提高鏡筒內(nèi)Inlens探測器在低電壓下的信號采集效率。

技術(shù)參數(shù)：