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Scanning Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng),可以和任何主流的的AFM進(jìn)行聯(lián)用??梢酝瑫r(shí)獲得形貌 & 納米尺度的熱導(dǎo)率以及溫度分布,非常適合應(yīng)用在納米線/碳纖維/聚合物復(fù)合材料等領(lǐng)域
模塊性能:
可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學(xué)性能測試
1) 溫度;
2) 溫度梯度變化曲線;
3) 定性熱導(dǎo)率;
4) 相變溫度;
5) 定性熱容量;
模塊優(yōu)勢:
1)高性價(jià)比,能實(shí)現(xiàn)熱學(xué)掃描及熱學(xué)性質(zhì)測試的功能,價(jià)格僅為其為同類產(chǎn)品的一半;
2)精細(xì)測量,能達(dá)到20nm區(qū)域測溫;
3)耐高溫,針尖在700℃高溫下也不易變形;
模塊掃描機(jī)制:
目前國內(nèi)的國家納米科學(xué)中心,中山大學(xué),美國希捷硬盤公司在華的工廠均采購了這個(gè)模塊。
以下是一些典型的SThM熱導(dǎo)率測試以及溫度分布的測試案例:
1)左半部分納米線的形貌圖以及溫度分布的對應(yīng),右半部分為碳膜/Bi2Te3(熱電材料)的形貌圖以及熱導(dǎo)率圖對應(yīng)。
2)碳纖維與環(huán)氧樹脂復(fù)合材料形貌與熱導(dǎo)率對應(yīng)
3)聚合物纖維PCL-Coll_形貌與溫度分布對應(yīng)
暫無數(shù)據(jù)!