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Scanning Microwave Impedance Microscopy，簡稱為sMIM，掃描微波阻抗顯微鏡，讓您的AFM成為專業(yè)的電學顯微鏡！
50nm超高分辨率，~100nm內(nèi)部電學探測，導體、半導體、絕緣體的廣泛適用度，為您提供電導率、介電常數(shù)、摻雜濃度納米級高靈敏度電學表征成像的解決方案。
Scan Wave™ 可應用于多種領(lǐng)域材料的研究和發(fā)展：微電子材料，鐵電材料，工業(yè)材料，以及石墨烯、碳納米管，2D半導體、納米材料等新星材料等。
獨立掃描模塊，包括微波信號發(fā)生器、探針干涉模塊、自主**同軸屏蔽探針、以及微波近場軟件，可應用于各種AFM平臺。
特殊MEMS結(jié)構(gòu)探針，有效避免散雜磁場的干擾
·專業(yè)多功能自由切換電學顯微鏡測試功能體驗
sMIM-C成像：介電常數(shù)、電容變化；
sMIM-R成像：電導率、電阻率變化；
dC/dV 振幅：載流子濃度；
dC/dV 相位：載流子類型+/- ；
dR/dV 振幅：相關(guān)損失系數(shù)；
dR/dV 相位：相關(guān)損失系數(shù)
·高精度電學測試，50nm分辨率；
·工業(yè)級高靈敏度、低噪音，“Hard stuff”材料電學測試不再是難題；
·可實現(xiàn)表面下成像、檢測（>100nm)
·不同材料同步測量：導體、半導體、絕緣體、電介質(zhì)都可以實現(xiàn)，不同的材料甚至分類都可以 在一次掃描中觀測。
·簡易操作：不需要樣品特別處理，不需要將樣品放置在導電或電流中，人性化軟件設(shè)計，操作簡單。
·接觸和非接觸模式多種掃描模式：即使在做力曲線，只要你想實現(xiàn)，就可以獲得電學數(shù)據(jù)；
暫無數(shù)據(jù)！
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