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反射高能電子衍射儀（Reflection
High-Energy Electron Diffraction）是觀察晶體生長(zhǎng)*重要的實(shí)時(shí)
監(jiān)測(cè)工具。它可以通過(guò)非常小的掠射角將能量為10～30KeV的單能電子掠射到晶體表面，通過(guò)衍射斑
點(diǎn)獲得薄膜厚度，組分以及晶體生長(zhǎng)機(jī)制等重要信息。因此反射高能電子衍射儀已成為MBE系統(tǒng)中
監(jiān)測(cè)薄膜表面形貌的一種標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)。
R-DEC公司生產(chǎn)的反射式高能電子衍射儀，以便于操作者使用的人性化設(shè)計(jì)，穩(wěn)定性和耐久性以
及擁有高亮度的衍射斑點(diǎn)等特長(zhǎng)得到日本國(guó)內(nèi)及海外各研究機(jī)構(gòu)的一致好評(píng)和認(rèn)可。
用于有機(jī)薄膜晶體結(jié)構(gòu)檢測(cè)。世界首創(chuàng)！歡迎來(lái)電詢(xún)問(wèn)詳細(xì)技術(shù)資料！
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