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儀器簡(jiǎn)介:
Si PIN探測(cè)器按封裝形式分為XPIN-XT和XPIN-BT兩個(gè)系列。XPIN-XT系列包括探測(cè)器和前置放大器,成本低廉,封裝形式多樣;XPIN-BT系列則集成了溫度控制和供電部分,既可配合Moxtek的MXDPP-200數(shù)字脈沖處理器使用,也可與用戶自己的DPP配套。
技術(shù)參數(shù):
產(chǎn)品指標(biāo) | XPIN-XT系列 | XPIN-BT系列 |
Si PIN探測(cè)器面積 | 6 mm2 或 13 mm2 | 6 mm2 或 13 mm2 |
硅片厚度 | 625μm | 625μm |
鈹窗厚度 | 8μm 或 25μm | 8μm 或 25μm |
準(zhǔn)直器材料 | W/Co/Ti/Al | W/Co/Ti/Al |
能量分辨率 | 6 mm2< 170eV FWHM 13 mm2: < 230eV FWHM | 6 mm2< 170eV FWHM 13 mm2: < 230eV FWHM |
峰背比 | 6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical) | 6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical) |
主要特點(diǎn):
1.能量分辨率高
2.Be窗厚度薄
3.探測(cè)器硅片更厚,計(jì)數(shù)率高
4.尺寸小,梯形外形設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊
5.封裝形式多樣
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