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FLEXTM是來自于CRAIC科技公司的一款經(jīng)濟但是功能強大的紫外-可見-近紅外顯微分光光度計。FLEXTM可以對微米量級的樣品進行無損的吸收、反射和熒光光譜測試。
FLEXTM顯微分光光度計從命名上可以看出是一款具有非常好靈活性的儀器。
FLEXTM能夠只使用一個鏡頭測量微光樣品從深紫外到近紅外范圍的光譜。設計的靈活性和經(jīng)濟性，模糊了科研級和工業(yè)使用的顯微分光光度計的界限。儀器操作簡單易用和功能的強大適合于法醫(yī)鑒定和工業(yè)品質(zhì)檢測。
FLEXTM顯微分光光度計的特點是將高靈敏度CCD陣列探測器支柱整合到光度計上。每個探測器都是用TE冷卻技術(shù)達到降低噪聲和保證長時工作穩(wěn)定性的要求，這使得儀器保持了非常優(yōu)良的信噪比。FLEXTM包含了一臺紫外-可見-近紅外顯微鏡，一套高分辨率彩色成像系統(tǒng)，紫外防護目鏡，一臺運行Windows7專業(yè)版系統(tǒng)的主機和一套整合光譜分析/儀器控制的軟件包。FLEXTM操作簡單、使用長久耐用，能夠提供出非常尖端的實驗結(jié)果。
應用
痕量證據(jù) 文檢 表面等離子共振 半導體薄膜厚度
光譜范圍 | 240 to 900 nm |
反射光譜范圍 | 400-900nm |
熒光光譜范圍 | 400-900nm |
熒光激發(fā) | 365-546nm |
采集面積 | 1-10000平方微米 |
熒光發(fā)射 | 254-546nm |
光譜分辨率 | 1-15nm可調(diào) |
探測器 | CCD陣列 |
探測器制冷 | 半導體制冷 |
掃描時間（全光譜） | *小4ms |
成像 | 彩色 |
成像分辨率 | 高達500萬像素 |
操作系統(tǒng) | Windows 7 ，8 |
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