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UVM-1TM全光譜顯微鏡(UV-visible-NIR microscope)的設(shè)計是將紫外和近紅外成像技術(shù)和寬帶顯微技術(shù)相結(jié)合,能夠**的實(shí)現(xiàn)紫外-可見-近紅外的成像。具有前沿技術(shù)的UVM-1TM顯微鏡結(jié)合了CRAIC公司創(chuàng)新設(shè)計的光學(xué)技術(shù),用戶僅用一臺顯微鏡就能在整個寬光譜范圍內(nèi)完成顯微成像。無論高分辨率,還是光譜成像能力,UVM-1TM都代表顯微成像領(lǐng)域的**水平。
具有獨(dú)特的多功能性系統(tǒng)設(shè)計能夠允許用戶只在一臺顯微鏡上獲得紫外-可見-近紅外的高分辨率成像和分析結(jié)果。紫外顯微鏡對半導(dǎo)體內(nèi)微量異物有很高的靈敏性,相比標(biāo)準(zhǔn)的顯微鏡,具有更強(qiáng)大的能力解決細(xì)節(jié)變化;而近紅外顯微鏡能夠無損的、有選擇性的對硅晶片設(shè)備內(nèi)部的電子電路進(jìn)行精確成像。這些應(yīng)用只是其眾多應(yīng)用領(lǐng)域的一小部分,UVM-1TM全光譜顯微鏡靈活的設(shè)計使其在任何應(yīng)用領(lǐng)域都能做到**、**秀。
UVM-1TM使用獨(dú)特創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計,并配有高分辨能力的數(shù)字相機(jī)和高放大倍數(shù)的顯微鏡,能夠在全光譜范圍內(nèi)獲得高品質(zhì)和高分辨率的彩色成像。UVM-1TM全光譜顯微鏡堪稱是一款強(qiáng)大、****的顯微光譜分析工具。
顯微鏡光譜范圍 | 200-2500nm |
透射圖像 | 可用 |
熒光激發(fā) | 254-546nm |
反射成像系統(tǒng) | 可用 |
偏振成像 | 可用 |
視圖范圍 | 40-2400微米 |
高分辨率紫外成像 | 可用 |
高分辨率近紅外成像 | 可用 |
紫外-可見-近紅外目標(biāo) | 可用 |
冷固態(tài)傳感器 | 可用 |
顯微鏡自動化 | 可用 |
暫無數(shù)據(jù)!