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            理學全新智能型X射線衍射儀NEW SmartLab
            理學全新智能型X射線衍射儀NEW SmartLab

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            日本

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            暫無
            北京嘉德利達科技有限公司

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            儀器介紹: 全新智能X射線衍射儀SmartLab系列,是當今世界高性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學**的CBO交叉光學系統(tǒng)、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance,一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導體、薄膜樣品測試。技術參數: 1X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉靶

            2、測角儀為水平測角儀

            3、測角儀*小步進為1/10000度,高精度測角儀(雙光學編碼、直接軸上定位)(理學**)

            4、測角儀配程序式可變狹縫

            5、自動識別所有光學組件、樣品臺(理學**)

            6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學**)

            7、小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)

            8、多用途薄膜測試組件

            9、微區(qū)測試組件、CBO-F微區(qū)光學組件

            10、In-Plane測試組件(理學獨有)

            11、入射端Ka1光學組件

            12、高速探測器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

            13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測器,可以接收直射X射線)

            14、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance(**)

            主要特點:智能X射線衍射儀SmartLab系列,可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。 可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料 可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

            主要的應用有:

            1. 粉末樣品的物相定性與定量分析 2. 計算結晶化度、晶粒大小 3. 確定晶系、晶粒大小與畸變 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度 6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構 7. 小角散射與納米材料粒徑分布 8. 微區(qū)樣品的分析

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            理學全新智能型X射線衍射儀NEW SmartLab信息由北京嘉德利達科技有限公司為您提供,如您想了解更多關于理學全新智能型X射線衍射儀NEW SmartLab報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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