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| 復(fù)享ILASER系列激光波長檢測 | ||
| 專門針對工業(yè)&科研激光波長與峰寬的快速檢測方案 | ||
| 復(fù)享光譜儀推出的iLaser激光波長系統(tǒng)解決方案集合了激光收集探頭、高通率光纖和復(fù)享光譜儀為一體，具有檢測光譜 快速、方便、低雜散光，精確，譜段可擴(kuò)展的特點(diǎn)，在高品質(zhì)譜儀產(chǎn)品中性價比非常高，符合中國工業(yè)和科研客戶的需要。用戶只需連接計(jì)算機(jī)，就可以在10毫秒之內(nèi)檢測激光波長及峰寬特性。 復(fù)享光譜儀測量激光波長和強(qiáng)度主要是用兩類光譜儀，PG4000高分辨光纖光譜儀和FX4000 微型光譜儀。PG4000高分辨光纖光譜儀能夠獲得較高的光學(xué)分辨率，非常適合測量半波寬較窄的連續(xù)性或者脈沖激光發(fā)光。對于大功率激光需要另外添加輻射積分器或余弦準(zhǔn)直鏡衰減過強(qiáng)的激光。 另外一款FX4000 主要針對測試激光對精度要求不那邊高并且預(yù)算較緊張的用戶，但是使用FX4000 也同樣能測出較好的效果。 通過復(fù)享ILASER系列激光波長檢測 可以測得激光主峰峰值和半波寬。 同時，復(fù)享也為用戶提供豐富的附件，具體需要
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| 光譜儀平臺選擇 |
| 高級配置-PG4000 - PG4000 高分辨光譜儀 - 余弦矯正器 - 石英光纖 FIB-400-TA--VIS/NIR - Morph 光譜儀軟件 標(biāo)準(zhǔn)配置-FX4000 - FX4000 微型光譜儀 - 石英光纖 FIB-400-TA--VIS/NIR - Morph 光譜儀軟件 |
| 型號 | 描述 |
| iLaser200F | 深紫外靈敏，適用于200-540 nm波段范圍； |
| iLaser300F | 適用于300-960 nm波段范圍，分辨率1 nm； |
| iLaser660F | 適用于660-1000 nm波段范圍； |
產(chǎn)品參數(shù)
| 項(xiàng)目 | 值 |
| 光譜儀： | FX4000 |
| 檢測波段： | 380-720 nm |
| 分辨率： | 0.35 nm，F(xiàn)WHM |
| 波長精度： | 0.12 nm |
| 像素尺寸： | 3648 px |
| 信噪比： | 300:1 |
| 積分時間： | 1-2000 ms |
| 接口： | USB2.0 |
| 光纖： | 高通石英光纖 |
| 雜散光： | 小于0.05%@600 nm |
| 供電： | USB供電，250 mA @ 5 VDC |
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暫無數(shù)據(jù)！
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