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AR-Meta 超表面光場檢測系統(tǒng) 采用 消除像差 的光學設計,以商用設備實現(xiàn) μm 量級超表面器件的原位、寬譜段的透 / 反射光場測量,并提供焦距、成像分辨率、點擴散函數(shù)、調(diào)制傳遞函數(shù)、斯特列爾比、數(shù)值孔徑、偏折效率等關鍵測量指標分析。結(jié)合豐富的偏振器件,為您帶來一款“專業(yè)化”的超表面與超透鏡光場檢測平臺。
超表面器件 超表面器件在空間上具有復雜的光場調(diào)控能力,需要在微米尺度下掃描光場。
微透鏡 口徑在數(shù)百微米以下的微透鏡及陣列,在集成光學中已開始發(fā)揮重要作用,受限于透鏡口徑,當前缺乏商用化的微透鏡光學指標檢測平臺。
注:以上參數(shù)如有差異,以官網(wǎng)為準。
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務
易用性
性價比