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ARM 角分辨光譜儀 采用 焦平面 Fourier Transform **技術(shù),基于顯微平臺,將角分辨光譜的“空間分辨率”提升至 μm 量級,**次實現(xiàn)了 角度 (k) + 空間 (x) + 光譜 (ω) 的三重分辨。優(yōu)化的集成設計,快速在 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜模式間切換。*終為您帶來一款“更全面”的光譜測試平臺。
微腔光子器件 微腔光子器件受構(gòu)型影響,光學性質(zhì)具有角分布特征,需在不同角度下實現(xiàn)光譜探測。
ARM 角分辨光譜儀 在以上領(lǐng)域的應用得益于如下幾個特點: 1 超過 60° 的角度 ARM 優(yōu)選 Olympus 大 N.A. 平場復消色差物鏡,收集超過 60° 的角向輻射光譜;匹配智能算法,快速實現(xiàn)包括 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測量模式; 2 達 5 個維度的空間選擇 ARM 內(nèi)置一個**設計的可調(diào) Aperture,可以實現(xiàn) X / Y 方向開口距離調(diào)節(jié),XY 兩維平面位置平移,及平面內(nèi) θ 方向旋轉(zhuǎn),準確抓取 復雜形貌 的微區(qū)樣品; 3 *小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊優(yōu)化的消色差、消相差光路,能夠?qū)⒔嵌确直媛侍嵘?0.5°,顯著提升光譜分析能力; 4 1.7μm 近紅外拓展 NEW 新一代**設計的 ARM 重新對角分辨光路系統(tǒng)進行構(gòu)型,** 在近紅外波段 900~1700nm 實現(xiàn)角分辨光譜測量,對推動光通訊、超表面、激光雷達等領(lǐng)域研究具有重要價值; 5 低溫 + 磁場拓展 新一代 ARM 也拓展了對低溫和磁場環(huán)境的支持,可適配*低 2.7K 低溫恒溫器 和** 5T 磁場強度 超導磁體; 6 除此之外,ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接,實現(xiàn)包括時間分辨、空間相干性、瞬態(tài)光譜采集等功能。
技術(shù)起源:角分辨光譜技術(shù)(Angle-resolved Spectroscopy, ARS),誕生于復旦大學,是一種 精細化的光譜技術(shù)?;谠摷夹g(shù)而生的角分辨光譜儀具有在 不同角度下 探測材料光譜性質(zhì)的能力,突破傳統(tǒng)光譜技術(shù)不能分辨角度的局限,是獲取光子材料色散關(guān)系,實現(xiàn)光學性質(zhì)“全面表征”的重要且**手段,在 微納光子學、低維材料、發(fā)光材料 等領(lǐng)域具有重要應用價值。
注:以上參數(shù)如有差異,以官網(wǎng)為準
暫無數(shù)據(jù)!