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        HORIBA X射線分析顯微鏡
        HORIBA X射線分析顯微鏡

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        面議

        型號(hào)

        品牌

        產(chǎn)地

        日本

        樣本

        暫無(wú)
        天津東方科捷科技有限公司

        會(huì)員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實(shí)

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        概要

        **一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開(kāi)創(chuàng)了科學(xué)分析的新時(shí)代。它將光學(xué)圖像與元素分析**地結(jié)合,為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。

        SDD檢測(cè)器保證了高速、高精度元素面掃描;高能量分辨率,高計(jì)數(shù)率的測(cè)量,且無(wú)需液氮。

        雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換(大氣或真空)。即使測(cè)量含水樣品、生物樣品時(shí)也可以保證測(cè)量所有元素的高靈敏度。

        獨(dú)特的硬件設(shè)計(jì)確保了XGT-7000操作的靈活性和廣泛的應(yīng)用范圍。通過(guò)軟件控制x射線導(dǎo)管在10 μm和1.2 mm間切換,以保證獲得**測(cè)量條件,無(wú)論是微觀到宏觀。

        與x射線導(dǎo)管同軸的CCD相機(jī),可以迅速、精確地定位感興趣區(qū)域。

        ·單點(diǎn)及多點(diǎn)自動(dòng)分析

        單點(diǎn)和自動(dòng)多點(diǎn)分析功能使得無(wú)論是從單個(gè)分析位置或是用戶定義的一系列位置上均可以獲得高質(zhì)量的譜圖。可自動(dòng)標(biāo)注元素譜峰。使用基本參數(shù)法或單標(biāo)樣基本參數(shù)法或是標(biāo)準(zhǔn)樣品校正曲線法定量計(jì)算,*低可測(cè)量ppm級(jí)的含量。膜厚分析軟件可以分析nm級(jí)或μm級(jí)樣品的多層膜厚。

        ·高光譜面掃描

        SmartMap軟件在每個(gè)像素點(diǎn)采集元素譜圖。采集結(jié)束后,用戶可以根據(jù)自己的分析,添加或刪除某個(gè)元素面分布圖,實(shí)現(xiàn)已有數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)脫機(jī)分析。

        X射線透射圖像有利于用戶觀察樣品內(nèi)部構(gòu)造,實(shí)現(xiàn)真正的無(wú)損內(nèi)部觀測(cè)。

        特征

        有著諸多創(chuàng)新的XGT-7200在眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用:電子電器、發(fā)動(dòng)機(jī)磨損分析、法醫(yī)科學(xué)、地質(zhì)礦物、醫(yī)藥、博物館、冶金、生物等。XGT-7200的靈活設(shè)計(jì),保證用戶通過(guò)簡(jiǎn)易的操作即可獲得高質(zhì)量的分析結(jié)果,無(wú)論是分析大區(qū)域,還是對(duì)微區(qū)細(xì)節(jié)分析,或是同時(shí)采集X射線熒光圖像和X射線透過(guò)像。

        ***的空間分辨率

        HORIBA獨(dú)特的X射線光管技術(shù)提供高空間分辨率微區(qū)XRF分析,X射線光斑直徑小到10微米。這種**強(qiáng)度的超細(xì)光斑,可進(jìn)行快速無(wú)損的微細(xì)結(jié)構(gòu)分析。

        *X射線透過(guò)像

        同時(shí)采集XRF圖像和X射線透過(guò)像的功能,可以用來(lái)分析無(wú)法用肉眼觀察到的樣品內(nèi)部構(gòu)造和元素組成。采用超細(xì)垂直的X射線束,即使觀察不平坦樣品也可以獲得清晰的內(nèi)部圖像。

        *雙真空模式

        ****的雙真空模式設(shè)計(jì)- 彼此間的切換在數(shù)秒內(nèi)即可完成。

        全真空模式,整個(gè)樣品室處于真空氛圍以保證輕元素分析的高靈敏度。

        局部真空模式,樣品處于大氣氛圍中,適宜于含水樣品的分析,如生物組織、文物碎片和館藏文物等。

        *完整地分析整個(gè)樣品

        *整合數(shù)據(jù)采集和分析的操作軟件

        界面友好的操作軟件允許用戶方便的控制硬件、選擇測(cè)量區(qū)域和全數(shù)據(jù)分析。功能包括:自動(dòng)標(biāo)定譜峰、定性定量測(cè)量、RGB圖像合成,線分析等。大尺寸的樣品室使得分析整個(gè)樣品成為可能,用10微米束斑可以分析微小區(qū)域甚至到測(cè)量大至10cm x 10cm的區(qū)域。

        技術(shù)參數(shù)

        測(cè)量元素:

        Na~U

        X射線管:

        銠(Rh)靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA

        X射線熒光檢測(cè)器:

        SDD硅漂移檢測(cè)器

        透過(guò)X射線檢測(cè)器:

        NaI(Ti)晶體

        X射線導(dǎo)管:

        單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無(wú)濾光片

        光學(xué)圖像:

        樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像

        樣品臺(tái)尺寸:

        XY:100mm×100mm

        樣品倉(cāng):

        全真空模式/ **真空 300mm×300mm×80mm

        信號(hào)處理:

        數(shù)值脈沖處理器(INCA處理器 )

        定性分析:

        自動(dòng)定義譜峰/ KLM線標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配

        定量分析:

        無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無(wú)標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點(diǎn)分析(*多5000)/ 多點(diǎn)結(jié)果輸出至Excel®

        面掃描功能:

        透過(guò)X射線像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線分析

        其它功能:

        可同時(shí)開(kāi)啟XGT-5200操作軟件

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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價(jià)比

        10分
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