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主要特點(diǎn):
. 準(zhǔn)確測定黃金、鉑金、銀飾品中的金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳、銥等元素含量,根據(jù)定義 給出符合國標(biāo) GB/T18043 要求的測試結(jié)果;
. 自動識別樣品類型,自動切換不同類型首飾樣品的測試模式;
. 儀器內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)樣品,具備自動校正功能,開機(jī)自動完成能量刻度、標(biāo)準(zhǔn)曲線校正、預(yù)熱一系 列動作,免除人為操作帶來的誤差和錯誤;
. 一鍵式測試操作,開啟軟件并放入樣品后,按下一鍵即可完成測試獲得結(jié)果,免除所有繁瑣 復(fù)雜的手工設(shè)置和操作;
. 具備高級自定義測試功能,開放各種參數(shù)調(diào)試調(diào)整,可建立自定義標(biāo)準(zhǔn)曲線,可保存或?qū)?導(dǎo)出自定義的數(shù)據(jù)庫和測試模式。
(注):X射線熒光(XRF)分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線(X射線熒光),它是一種非破壞性分析方法,可以對試樣進(jìn)行多元素快速分析。
先進(jìn)多光束可調(diào)系統(tǒng);
高分辨率SDD 硅漂移探測器;
快速定性分析;
完善的輻射安全防護(hù);
RoHS/WEEE 指令元素快速分析;
內(nèi)標(biāo)法與基本參數(shù)法組成強(qiáng)大定量分析方法群;
內(nèi)置各類標(biāo)準(zhǔn)樣品曲線數(shù)據(jù)庫。
元素分析范圍:AI-U
含量分析范圍:1ppm~99.99%
重復(fù)性:<5%
測量時間:一般60~300s
測量對象:塊狀物體、粉末、液體
激發(fā)功率:50W
探測器分辨率:149gev
輸入電源:AC110V/220V
高壓電源:0~50kv/0~1mA
X射線輻射劑量:≤1Sv/h
代表性元素120s可檢出限LOD(mg/kg)
性能指標(biāo)
塑料基體 | Cr | Br | Cd | Hg | Pb |
LOD | 8 | 2 | 4 | 4 | 5 |
暫無數(shù)據(jù)!