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AXIS SUPRA X射線光電子能譜儀
Axis Supra 的設(shè)計(jì)理念是將樣品自動(dòng)載入、光學(xué)顯微鏡輔助定位樣品分析位置和智能的數(shù)據(jù)采集、處理等易用性集成于高端XPS,并未由于高度自動(dòng)化而喪失高性能。超高的靈敏度、杰出的能量分辨和快速、高空間分辨的成像滿足絕大多數(shù)高要求的應(yīng)用
技術(shù)特點(diǎn)
·大功率X光源和浸入式磁透鏡設(shè)計(jì)以獲取高的檢測(cè)靈敏度。
·大平均半徑的雙聚焦半球能量分析器,可以獲得高的譜線能量分辨。
·**二維陣列延遲線檢測(cè)器,可以同時(shí)記錄光電子的信號(hào)強(qiáng)度及其發(fā)射位置,亦可以在數(shù)秒的時(shí)間里獲取完整的XPS譜圖。
·**的同源中和器,具備無陰影荷電中和能力,且對(duì)于表面凸凹不平的樣品,可實(shí)現(xiàn)精確電荷中和。
·標(biāo)配單色化Al陽極,亦可選購(gòu)單色化的Al/Ag雙陽極,并且單色化陽極靶可以更換多個(gè)新鮮靶點(diǎn),極大地延長(zhǎng)了陽極靶的使用壽命。
·標(biāo)配進(jìn)樣室定位光學(xué)顯微鏡,可以在進(jìn)樣預(yù)抽真空時(shí)定位多樣品的分析位置,然后轉(zhuǎn)入分析室實(shí)施自動(dòng)分析。
暫無數(shù)據(jù)!