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        J200飛秒激光剝蝕固體進樣系統(tǒng)
        J200飛秒激光剝蝕固體進樣系統(tǒng)

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        北京澳作生態(tài)儀器有限公司

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        LA-ICP-MS 的量子級飛躍

        J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學(xué)特性,這是采用長脈沖激光技術(shù)無法達到的。

        LA-ICP-MS 的量子級飛躍

        J200LA-fs飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破。J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下,均勻剝蝕樣品成透明狀,這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學(xué)特性,這是采用長脈沖激光技術(shù)無法達到的。

        減少樣品的依賴性,比霧化技術(shù)精度高

        J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高,且沒有熱效應(yīng)。而采用長激光脈沖的系統(tǒng),會發(fā)生的多種熱過程,改變剝蝕樣品的數(shù)量和化學(xué)成分,如改變熱特性等;并且無論采用什么波長,如266nm, 213nm 或193nm, 為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素,需要高精度的、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。

        J200LA-fs剝蝕均勻一致,剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學(xué)特性,無需高度匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì),也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。

        均勻一致的粒徑確保高精度、高靈敏度測量

        長激光脈沖系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒大(常大于數(shù)微米),駐留在輸送管中,導(dǎo)致運輸效率低,并且降低了分析的靈敏度。大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產(chǎn)生峰值,導(dǎo)致測量精度降低。J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm,運輸效率高。這些到達ICP源的顆粒能完全被消解,產(chǎn)生穩(wěn)健、恒定的瞬時ICP-MS信號。用戶可完全依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)。

        元素和同位素的分餾*少

        在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程:(1)非化學(xué)計量物質(zhì)剝蝕的熱過程;(2)大樣品顆粒在ICP源不完全消解。J200施加高能激光的時間比長脈沖系統(tǒng)短,*短達1/10000。J200LA-fs系統(tǒng)通過非熱過程,施加超高激光輻射剝蝕樣品,產(chǎn)生的顆粒能在ICP源完全消解,確保在測量過程中獲取高精度、穩(wěn)定的元素或同位素信號。

        高精度元素和同位素測量的保障

        ASI公司的技術(shù)團隊擁有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景,也是世界**在LA-ICP-MS系統(tǒng)中采用飛秒激光脈沖,并實現(xiàn)其**性能的公司。J200LA-fs系統(tǒng)能完成**挑戰(zhàn)性的化學(xué)分析工作。來自ASI公司嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目蒲泻图夹g(shù)支持是其它技術(shù)無法達到的。使用ASI公司的產(chǎn)品,意味著能直接和世界**的研究團隊交流,并得到專業(yè)的技術(shù)支持。

        強大的∫ Integra軟件與ICP-MS儀器協(xié)同操作

        J200LA-fs系統(tǒng)軟件∫ Integra功能直觀、帶圖形界面,易瀏覽不同的樣品區(qū)域,設(shè)立靈活的采樣方式。∫ Integra采用雙向通信控制,協(xié)同操作ICP-MS儀器達到了****的水平。∫ Integra軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集,并通過串聯(lián)多個“處方”,讓系統(tǒng)自動完成各個測量工作。

        硬件控制簡單、方便

        ∫ Integra軟件使J200LA-fs用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵,用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統(tǒng)、光模塊、3-D操作臺、自動高度調(diào)節(jié)傳感器、樣品室等部件的工作狀態(tài),不同用戶組可賦予不同的使用權(quán)限。

        獲取勾邊樣品圖像,制定復(fù)雜的激光采樣模式

        ∫ Integra 軟件提供大的視頻窗口,顯示勾邊的、詳細(xì)的樣品圖像。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式,包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式。即使是形狀怪異的結(jié)構(gòu),采用∫ Integra的模式工具也可選定,并分析其元素或同位素。

        雙照相系統(tǒng)掃描樣品

        J200LA-fs 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。∫ Integra允許用戶先獲取樣品的廣角圖像,然后在圖像上掃視不同的位置,高倍放大選定點。

        智能氣流控制,**限度地獲取ICP-MS等離子體的穩(wěn)定性和分析性能

        ∫ Integra具備智能輸送和補充氣控制功能,使每種氣體按預(yù)定的方式達到設(shè)定值,同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài),防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。

        “處方”功能讓系統(tǒng)自動運行

        用戶可將多個硬件部件運行命令集合,并按時間順序排列,形成∫ Integra“處方”。制定完成的處方,以后也可以調(diào)用。多個處方可編制成組,自動順序執(zhí)行,使測量工作高度自動化。

        可簡單采用“recall”命令調(diào)用“處方”,重復(fù)實驗,也可復(fù)制部分“處方”,結(jié)合新的命令,完成新的采樣過程。

        主要技術(shù)指標(biāo)

        激光器工業(yè)級高頻Ytterbium diode飛秒激光器,343 nm和1030 nm,頻率可調(diào),**10KHz
        能量控制連續(xù)可調(diào)光學(xué)衰減器,集成激光能量監(jiān)測單元
        激光光閘自動光閘保證激光能量穩(wěn)定
        激光脈沖能量(激光頭輸出)**150μJ/脈沖 @ 343 nm* ,** 1mJ/脈沖 @ 1030 nm
        激光光斑大小控制3-70微米,結(jié)合了自動光束擴展器和狹縫成像

        光斑大小范圍取決于不同設(shè)備的型號,可用戶自定義光斑大小范圍

        自動X-Y軸100 mm X 100 mm 行程范圍,分辨率0.2微米
        自動Z軸35mm行程范圍,Z軸可以實現(xiàn)樣品自動高度調(diào)整,分辨率0.5微米
        剝蝕點定位紅色激光具有更好的信號精度,ASI的自動對焦**技術(shù)
        樣品圖像高分辨率的雙CMOS鏡頭,用于高倍放大和大視野預(yù)覽,支持光學(xué)變焦
        樣品成像光源泛光LED燈,同軸反射光和透明光源,正交十字光
        氣體控制雙路數(shù)字流量控制器,可選第三個流量控制器(用于氮氣或其他氣體)

        電控兩向和三向閥,ASI**氣體控制單元

        樣品室Flex™ 樣品室具有系列可更換的墊片,適合不同大小的樣品

        Vertex™樣品室具有快速沖洗效率和大量樣品的運送能力

        可用戶自定義樣品固定裝置,ASI**LIBS測量兼容性

        與ICP-MS通訊在J200和ICP-MS之間實現(xiàn)雙向控制
        LIBS檢測器

        (僅適用于Tandem系統(tǒng))

        Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器
        儀器軟件Axiom LA系統(tǒng)操作軟件,ASI**的TruLIBS™發(fā)射光譜數(shù)據(jù)庫(用于Tandem系統(tǒng))

        Clarity Femto數(shù)據(jù)處理軟件(處理LA-ICP-MS和LIBS的數(shù)據(jù),進行定量計算/物質(zhì)分類)

        激光安全等級一級激光產(chǎn)品,樣品加載區(qū)域有光學(xué)安全隔離板,激光自鎖保護裝置
        系統(tǒng)尺寸70” (長) X 26” (深) X 30” (高) [178cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (僅LA主機)

        75” (長) X 26” (深) X 30” (高) [191cm(長) X 66cm(深) X 76cm(高)] (Tandem+LIBS檢測器)

        重量600 lbs [272Kg](僅LA主機);600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)
        供電要求110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A
        質(zhì)保所有硬件和軟件質(zhì)保一年,飛秒激光器質(zhì)保兩年
        認(rèn)證CE認(rèn)證
        可選項LA升級為Tandem系統(tǒng)
        延保可簽署多年質(zhì)保和服務(wù)協(xié)議

        * 通常作用在樣品表面的激光能量大約是20-80 μJ

        應(yīng)用案例

        植物樣品表層及深層元素分布

        采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器,10個脈沖,脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部。

        大米和糙米樣品外殼及內(nèi)部砷元素的分布圖譜

        大米是中國、韓國和日本等東亞諸國的主要農(nóng)作物,大米中砷元素含量超標(biāo)引發(fā)了很多食品安全問題。國際食品法典委員會標(biāo)準(zhǔn)中也明確規(guī)定鉛含量不得大于0.2mg/kg ,鎘含量不得大于0.1mg/kg,但仍然對砷元素含量無規(guī)定。為了建立相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),韓國科學(xué)技術(shù)研究院搜集了韓國市場上常見的100種大米和糙米樣品,分析其中砷元素的含量及分布作為相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定的科學(xué)依據(jù)。研究結(jié)果表明,砷元素主要分布在糙米和大米樣品的表面,并存在砷元素含量明顯的向中心遞減趨勢。結(jié)論:砷元素主要分布在大米和糙米的表面,打磨是降低砷元素含量的主要手段。

        產(chǎn)地:美國

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