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硅片厚度測量儀SIT-200
硅片厚度測量儀（SIT-200）由精確可調(diào)激光光源，聚焦傳感器，光學接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標上，由目標表面和背面反射光干涉形成干涉圖案，經(jīng)過聚焦傳感器后由光學探測器進行檢測。
產(chǎn)品特點：
l 全光學，非接觸硅片厚度測試
l 高動態(tài)范圍測量粗糙表面
l 濕法刻蝕過程中實時測量
高靈敏度高精度快速測量遠程控制
結(jié)構(gòu)示意圖
SIT-200
產(chǎn)品參數(shù)：
測量目標 | 硅片 |
測量厚度 | 10-500μm |
光源 | 1515-1585nm掃描 |
功率 | 0.6mw，Class1 |
指示光源 | 紅光，Class1M |
測量時間 | 20ms |
重復性 | 0.1μm |
輸出監(jiān)控 | 干擾信號（電學） |
PC接口 | 網(wǎng)口 |
供電 | 100-240V，50/60Hz |
尺寸 | 364 x 147 x 391mm |
重量 | 9kg |
暫無數(shù)據(jù)！
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