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奧林巴斯小型臺式BTX™ III X射線衍射儀（XRD）

奧林巴斯臺式BTX™ III X射線衍射儀可直接對主要和次要成分進(jìn)行實(shí)時、快速、可靠的定量礦物學(xué)和物相分析。這款獨(dú)立型儀器無需壓縮氣體、水冷、輔助冷卻器或外部變壓器即可工作。并且不存在后續(xù)服務(wù)要求，從而降低了擁有成本。該儀器還可通過無線方式以及以太網(wǎng)連接方式（BTX III分析儀）與其他設(shè)備直接連接。

更高的速度和靈敏度

配有改進(jìn)型X射線探測器的BTX III與強(qiáng)大直觀的SwiftMin®軟件配合使用，可獲得更高的靈敏度、更快的分析速度以及更可靠的結(jié)果。相比前一型號，升級后的X射線探測器硬件運(yùn)行速度提高33％，并且強(qiáng)度更高，從而降低了LOD。SwiftMin自動相識別和定量軟件可直接在X射線衍射分析儀上顯示實(shí)時數(shù)據(jù)，讓您能夠快速可靠做出決策。

大幅度簡化樣品的制備

配有獨(dú)具特色的小型樣品托架，因此成為傳統(tǒng)X射線衍射儀方便攜帶、輕便且?guī)缀鯚o需維護(hù)的替代品。采用NASA**技術(shù)的振動樣品托架可讓樣品腔內(nèi)的所有顆粒物實(shí)現(xiàn)對流，從而確保數(shù)據(jù)幾乎不受取向效應(yīng)影響。僅需15毫克樣品即可，并且使用隨附取樣套件即可輕松獲得樣品。

同時獲得定量XRD和定性XRF數(shù)據(jù)

專門設(shè)計的直接激勵電荷耦合器件（CCD）可同時檢測光子位置和能量，從而讓分析儀能夠同時采集XRD和XRF的X射線光子數(shù)據(jù)。

與 SwiftMin® 軟件配合使用實(shí)現(xiàn)更高的生產(chǎn)率

SwiftMin軟件的直觀功能不但能夠提高生產(chǎn)率還可節(jié)省重復(fù)任務(wù)時間，這些功能包括：

• 單一數(shù)據(jù)儀表板：在單一視圖中查看所有配方、校準(zhǔn)和分析信息，從而加快工作流程。

• 預(yù)設(shè)校準(zhǔn)：可在受密碼保護(hù)的實(shí)驗(yàn)室管理器頁面中輸入預(yù)設(shè)校準(zhǔn)，讓任何操作員均可使用分析儀并快速獲得可靠結(jié)果。

• 自動數(shù)據(jù)傳輸：操作員按下停止鍵或經(jīng)過預(yù)設(shè)時間之后，將會自動將數(shù)據(jù)發(fā)送到您的網(wǎng)絡(luò)。

• 輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù)：輕松導(dǎo)出礦物定量分析結(jié)果以便進(jìn)行可視化展示或進(jìn)一步分析，并可利用網(wǎng)絡(luò)文件夾訪問原始數(shù)據(jù)文件對衍射圖進(jìn)行分析。

快速完成定量性XRD分析的5個步驟

僅需執(zhí)行幾個簡單的步驟，就可運(yùn)行一次檢測：

奧林巴斯XRD分析儀兼具檢測速度快和檢測結(jié)果精確的特性

通過執(zhí)行以上所述的五個步驟，檢測人員可以比傳統(tǒng)XRD系統(tǒng)更快的速度輕松地完成定量性XRD分析。我們不僅了解檢測速度對用戶的重要性，我們還深知用戶對精確性和可重復(fù)性的要求：我們的分析儀可以提供用戶所需的精確度和可重復(fù)性！

與需要定期重新調(diào)整以補(bǔ)償磨損的齒輪光學(xué)部件的傳統(tǒng)XRD系統(tǒng)相比，我們的XRD分析儀沒有多少移動部件，因此可以提供更精確、更可靠的結(jié)果。從而可使用戶充滿信心、快速地做出決策。