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PAN式低溫掃描探針顯微鏡系統(tǒng)
Pan式低溫掃描探針顯微鏡析系統(tǒng)是由美國RHK Technology公司制造的,主要特點包括: - PAN STM/AFM掃描頭體積極小(2.96”X1.55”) - 集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動(5mmX5mmX10mm) - 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍 - 內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng),原位針尖與樣品更換 - 兼容多種Flow式或Bath式低溫恒溫器與磁體 - 與RHK**全數(shù)字R9控制器一同使用 適用于拓撲絕緣體、低溫超導(dǎo)、表面結(jié)構(gòu)、電學(xué)測量等表面科學(xué)研究中。 | ||
主要技術(shù)參數(shù): - 工作模式:STM與非接觸式AFM - 溫度范圍:<300mK; RT; VT; HT - X-Y-Z位移范圍:5mmX5mmX10mm | - 掃描范圍:5umX5um (RT) - 樣品尺寸:10mmX10mm - 掃描頭尺寸:40mmX70mm |
結(jié)構(gòu)緊湊,體積極小: 內(nèi)置減震系統(tǒng)、可水平或垂直放置 Pan式低溫掃描探針顯微鏡結(jié)構(gòu)極其緊湊,核心部分尺寸在~40X70mm左右;內(nèi)置有彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng);根據(jù)用戶的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置兩種;初次之外,它兼容常用的低溫恒溫器和磁體,并提供相應(yīng)的集成方案。 |
原位樣品與探針更換: 操做簡單、快速;性能可靠 在低溫和超高真空環(huán)境中,樣品和針尖的原位更換一直是使用者非常關(guān)心的問題。為此,RHK公司為Pan式低溫掃描探針顯微鏡開放了一套性能可靠、操作簡單快速的原位樣品與針尖更換裝置,并提供了多個樣品與針尖的放置室。 Pan式低溫掃描探針顯微鏡中使用的樣品架靈活多樣,可充分滿足各種實驗要求,如原位加熱、樣品剝離、樣品轟擊等等;同時,它還兼容其他的商業(yè)化掃描探針顯微鏡中所配備的樣品架。 |
兼容各種磁體和恒溫器 為充分滿足科學(xué)家的要求,RHK與尖端磁體和恒溫器制造商緊密合作,開發(fā)了低溫掃描探針顯微鏡整機系統(tǒng)和獨立掃描頭模塊系統(tǒng),根據(jù)用戶的特殊要求提供了一整套的解決方案。 RHK公司將世界上***的全數(shù)字掃描探針顯微鏡控制器R9集成到Pan式掃描探針顯微鏡中,集中研發(fā)力量,推出了噪音極低的R9掃描控制系統(tǒng)和IVP-R9前置放大器。 |
應(yīng)用案例: | |
Si(111)表面7X7重構(gòu),4K | Bi2Se3表面形貌,4K |
部分用戶名單: | |
- University Of Texas - University of Maryland - University of Chicago - Columbia University - Technischen Universitat Berlin - Academica Sinica (2) - Georgia Institute of Technology - Weizmann Institute of Science - Indian Association for the Cultivation of Science ...... |
PAN式低溫掃描探針顯微鏡介紹與技術(shù)參數(shù)(1M) |
暫無數(shù)據(jù)!