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        PAN式低溫掃描探針顯微鏡
        PAN式低溫掃描探針顯微鏡

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        PAN式低溫掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

        Pan式低溫掃描探針顯微鏡析系統(tǒng)是由美國RHK Technology公司制造的,主要特點包括:

        - PAN STM/AFM掃描頭體積極小(2.96”X1.55”)

        - 集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動(5mmX5mmX10mm)

        - 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍

        - 內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng),原位針尖與樣品更換

        - 兼容多種Flow式或Bath式低溫恒溫器與磁體

        - 與RHK**全數(shù)字R9控制器一同使用

        適用于拓撲絕緣體、低溫超導(dǎo)、表面結(jié)構(gòu)、電學(xué)測量等表面科學(xué)研究中。


        主要技術(shù)參數(shù):

        - 工作模式:STM與非接觸式AFM

        - 溫度范圍:<300mK; RT; VT; HT

        - X-Y-Z位移范圍:5mmX5mmX10mm

        - 掃描范圍:5umX5um (RT)

        - 樣品尺寸:10mmX10mm

        - 掃描頭尺寸:40mmX70mm


        結(jié)構(gòu)緊湊,體積極小:

        內(nèi)置減震系統(tǒng)、可水平或垂直放置

        Pan式低溫掃描探針顯微鏡結(jié)構(gòu)極其緊湊,核心部分尺寸在~40X70mm左右;內(nèi)置有彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng);根據(jù)用戶的要求,可以提供水平放置配置和垂直放置配置兩種;初次之外,它兼容常用的低溫恒溫器和磁體,并提供相應(yīng)的集成方案。


        原位樣品與探針更換

        操做簡單、快速;性能可靠

        在低溫和超高真空環(huán)境中,樣品和針尖的原位更換一直是使用者非常關(guān)心的問題。為此,RHK公司為Pan式低溫掃描探針顯微鏡開放了一套性能可靠、操作簡單快速的原位樣品與針尖更換裝置,并提供了多個樣品與針尖的放置室。

        Pan式低溫掃描探針顯微鏡中使用的樣品架靈活多樣,可充分滿足各種實驗要求,如原位加熱、樣品剝離、樣品轟擊等等;同時,它還兼容其他的商業(yè)化掃描探針顯微鏡中所配備的樣品架。


        兼容各種磁體和恒溫器

        為充分滿足科學(xué)家的要求,RHK與尖端磁體和恒溫器制造商緊密合作,開發(fā)了低溫掃描探針顯微鏡整機系統(tǒng)和獨立掃描頭模塊系統(tǒng),根據(jù)用戶的特殊要求提供了一整套的解決方案。

        RHK公司將世界上***的全數(shù)字掃描探針顯微鏡控制器R9集成到Pan式掃描探針顯微鏡中,集中研發(fā)力量,推出了噪音極低的R9掃描控制系統(tǒng)和IVP-R9前置放大器。



        應(yīng)用案例:

        Si(111)表面7X7重構(gòu),4K

        Bi2Se3表面形貌,4K


        部分用戶名單:
        - University Of Texas

        - University of Maryland

        - University of Chicago

        - Columbia University

        - Technischen Universitat Berlin

        - Academica Sinica (2)

        - Georgia Institute of Technology

        - Weizmann Institute of Science

        - Indian Association for the Cultivation of Science

        ......


        PAN式低溫掃描探針顯微鏡介紹與技術(shù)參數(shù)(1M)

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