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        TESCAN MIRA場發(fā)射掃描電鏡
        TESCAN MIRA場發(fā)射掃描電鏡

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        捷克

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        暫無
        泰思肯(中國)有限公司

        會員

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        第2年

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        TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡,配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍,在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現(xiàn)了 SEM 成像和實時元素分析。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程,從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案。

        TESCAN MIRA 具有創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計,確保在需要時可以隨時無縫地選擇成像或分析條件,而無需對鏡筒內(nèi)的任何元件重新進行機械對中;借助完全集成的 Essence™ EDS 軟件,可以快速、輕松地從成像切換到分析操作模式,一鍵即可實現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改。

        主要特點

        ü完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺,可在 Essence™ 軟件的同一個窗口中實現(xiàn) SEM 成像和實時元素分析;

        üTESCAN 獨特的無光闌光路設(shè)計及實時電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™),可快速獲得**的成像和分析條件;

        ü獨特的大視野光路(Wide Field Optics™)設(shè)計,可實現(xiàn)*小放大倍率低至2倍,因而無需額外的光學(xué)導(dǎo)航相機,即可輕松、精確的對樣品進行導(dǎo)航;

        ü標(biāo)配的 SingleVac™ 模式,不導(dǎo)電樣品或電子束敏感樣品無需噴鍍即可在此模式下直接進行觀察;直觀的模塊化 Essence™ 軟件,無論用戶的經(jīng)驗水平如何,均可輕松操作;

        üEssence™ 3D 防碰撞模型,可確保樣品臺和樣品移動時,安裝在樣品室內(nèi)探測器的安全性;

        ü可選配的鏡筒內(nèi) SE BSE 探測器,以及電子束減速技術(shù),更好的提升了低電壓下的成像性能;

        ü標(biāo)準(zhǔn)分析平臺,可選配集成*多種類的探測器和附件(如陰極熒光探測器,水冷背散射電子探測器或拉曼光譜儀等)。

        中間鏡設(shè)計

        MIRA 的鏡筒中增加了一個特殊的透鏡,使得電子束斑尺寸更小,進而提升大束流下的分辨率。這個獨特的透鏡--中間鏡 (Intermediate Lens™) 結(jié)合電子束追蹤技術(shù)(In-?ight Beam Tracing™),可確保操作者設(shè)定的束流值與真實作用在樣品上的束流相一致。這對于需要大束流下進行的分析應(yīng)用如EDS/EBSD/WDS等,以及必須在相同條件下進行重復(fù)實驗或表征的需求尤其重要。

        更多的探測器和附件

        TESCAN MIRA 可以安裝各類附件以滿足特定的應(yīng)用需求,同時還可以選配鏡筒內(nèi) SE 和BSE 探測器以及電子束減速技術(shù),進一步拓展了 MIRA 的分析能力,滿足當(dāng)前和未來在亞微米尺度的表征需求。選配鏡筒內(nèi) SE 和 BSE 探測器后,即可同時獲得包括樣品室內(nèi)SE、樣品室內(nèi)BSE、鏡筒內(nèi)SE及鏡筒內(nèi)BSE的4種不同襯度信號。電子束減速技術(shù)則可提升其成像能力,尤其是在低電壓下的分辨率。

        全新的 EssenceTM 電鏡控制軟件

        采用 TESCAN Essence™ 多用戶電鏡操作軟件,具有快速搜索、操作步驟撤銷/重做和預(yù)設(shè)參數(shù)等功能,實現(xiàn)更高效的樣品分析和表征。用戶可以根據(jù)實際操作水平或特殊應(yīng)用需求的不同在軟件中自定義界面布局。另外,Essence™ 防碰撞模型軟件虛擬出樣品室內(nèi)部,直觀的顯示樣品室內(nèi)的所有硬件的幾何關(guān)系,樣品臺的大小和位置,以及樣品和安裝的其它附件。

        創(chuàng)新的 SingleVac TM 模式

        SingleVac™ 模式是 TESCAN MIRA 的標(biāo)配功能,TESCAN 已為此模式預(yù)設(shè)了真空值,荷電樣品無需噴鍍也可以使用背散射電子探測器直接觀察。同時還可以選配 UniVac™ 模式,該模式下可連續(xù)調(diào)節(jié)真空度**至 700 Pa,用于極端放電、放氣及電子束敏感樣品的二次電子和背散射電子成像。

        軟件:

        ·測量軟件, 公差測量軟件

        ·圖像處理

        ·預(yù)設(shè)參數(shù)

        ·直方圖及LUT

        ·SharkSEM™ 基礎(chǔ)版 (遠程控制)

        ·3D 防碰撞模型軟件

        ·對象區(qū)域

        ·光電聯(lián)用

        ·定時關(guān)機

        ·CORAL™(用于生命科學(xué)的電鏡模塊)

        ·自動拼圖軟件

        ·樣品觀察

        ·TESCAN Flow™ (離線處理軟件)

        根據(jù)實際配置和需求

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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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        TESCAN MIRA場發(fā)射掃描電鏡信息由泰思肯(中國)有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于TESCAN MIRA場發(fā)射掃描電鏡報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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