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            TESCAN MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
            TESCAN MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

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            產(chǎn)地

            捷克

            樣本

            暫無(wú)
            泰思肯(中國(guó))有限公司

            會(huì)員

            |

            第2年

            |

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            TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡,配置有高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)赥ESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個(gè)窗口中實(shí)現(xiàn)了 SEM 成像和實(shí)時(shí)元素分析。這種結(jié)合大大簡(jiǎn)化了從樣品中獲取形貌和元素?cái)?shù)據(jù)的過(guò)程,從而使得MIRA 成為質(zhì)量控制、失效分析和實(shí)驗(yàn)室常規(guī)材料檢測(cè)的有效分析解決方案。

            TESCAN MIRA 具有創(chuàng)新的光學(xué)設(shè)計(jì),確保在需要時(shí)可以隨時(shí)無(wú)縫地選擇成像或分析條件,而無(wú)需對(duì)鏡筒內(nèi)的任何元件重新進(jìn)行機(jī)械對(duì)中;借助完全集成的 Essence™ EDS 軟件,可以快速、輕松地從成像切換到分析操作模式,一鍵即可實(shí)現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改。

            主要特點(diǎn)

            ü完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平臺(tái),可在 Essence™ 軟件的同一個(gè)窗口中實(shí)現(xiàn) SEM 成像和實(shí)時(shí)元素分析;

            üTESCAN 獨(dú)特的無(wú)光闌光路設(shè)計(jì)及實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™),可快速獲得**的成像和分析條件;

            ü獨(dú)特的大視野光路(Wide Field Optics™)設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)*小放大倍率低至2倍,因而無(wú)需額外的光學(xué)導(dǎo)航相機(jī),即可輕松、精確的對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航;

            ü標(biāo)配的 SingleVac™ 模式,不導(dǎo)電樣品或電子束敏感樣品無(wú)需噴鍍即可在此模式下直接進(jìn)行觀察;直觀的模塊化 Essence™ 軟件,無(wú)論用戶(hù)的經(jīng)驗(yàn)水平如何,均可輕松操作;

            üEssence™ 3D 防碰撞模型,可確保樣品臺(tái)和樣品移動(dòng)時(shí),安裝在樣品室內(nèi)探測(cè)器的安全性;

            ü可選配的鏡筒內(nèi) SE BSE 探測(cè)器,以及電子束減速技術(shù),更好的提升了低電壓下的成像性能;

            ü標(biāo)準(zhǔn)分析平臺(tái),可選配集成*多種類(lèi)的探測(cè)器和附件(如陰極熒光探測(cè)器,水冷背散射電子探測(cè)器或拉曼光譜儀等)。

            中間鏡設(shè)計(jì)

            MIRA 的鏡筒中增加了一個(gè)特殊的透鏡,使得電子束斑尺寸更小,進(jìn)而提升大束流下的分辨率。這個(gè)獨(dú)特的透鏡--中間鏡 (Intermediate Lens™) 結(jié)合電子束追蹤技術(shù)(In-?ight Beam Tracing™),可確保操作者設(shè)定的束流值與真實(shí)作用在樣品上的束流相一致。這對(duì)于需要大束流下進(jìn)行的分析應(yīng)用如EDS/EBSD/WDS等,以及必須在相同條件下進(jìn)行重復(fù)實(shí)驗(yàn)或表征的需求尤其重要。

            更多的探測(cè)器和附件

            TESCAN MIRA 可以安裝各類(lèi)附件以滿(mǎn)足特定的應(yīng)用需求,同時(shí)還可以選配鏡筒內(nèi) SE 和BSE 探測(cè)器以及電子束減速技術(shù),進(jìn)一步拓展了 MIRA 的分析能力,滿(mǎn)足當(dāng)前和未來(lái)在亞微米尺度的表征需求。選配鏡筒內(nèi) SE 和 BSE 探測(cè)器后,即可同時(shí)獲得包括樣品室內(nèi)SE、樣品室內(nèi)BSE、鏡筒內(nèi)SE及鏡筒內(nèi)BSE的4種不同襯度信號(hào)。電子束減速技術(shù)則可提升其成像能力,尤其是在低電壓下的分辨率。

            全新的 EssenceTM 電鏡控制軟件

            采用 TESCAN Essence™ 多用戶(hù)電鏡操作軟件,具有快速搜索、操作步驟撤銷(xiāo)/重做和預(yù)設(shè)參數(shù)等功能,實(shí)現(xiàn)更高效的樣品分析和表征。用戶(hù)可以根據(jù)實(shí)際操作水平或特殊應(yīng)用需求的不同在軟件中自定義界面布局。另外,Essence™ 防碰撞模型軟件虛擬出樣品室內(nèi)部,直觀的顯示樣品室內(nèi)的所有硬件的幾何關(guān)系,樣品臺(tái)的大小和位置,以及樣品和安裝的其它附件。

            創(chuàng)新的 SingleVac TM 模式

            SingleVac™ 模式是 TESCAN MIRA 的標(biāo)配功能,TESCAN 已為此模式預(yù)設(shè)了真空值,荷電樣品無(wú)需噴鍍也可以使用背散射電子探測(cè)器直接觀察。同時(shí)還可以選配 UniVac™ 模式,該模式下可連續(xù)調(diào)節(jié)真空度**至 700 Pa,用于極端放電、放氣及電子束敏感樣品的二次電子和背散射電子成像。

            軟件:

            ·測(cè)量軟件, 公差測(cè)量軟件

            ·圖像處理

            ·預(yù)設(shè)參數(shù)

            ·直方圖及LUT

            ·SharkSEM™ 基礎(chǔ)版 (遠(yuǎn)程控制)

            ·3D 防碰撞模型軟件

            ·對(duì)象區(qū)域

            ·光電聯(lián)用

            ·定時(shí)關(guān)機(jī)

            ·CORAL™(用于生命科學(xué)的電鏡模塊)

            ·自動(dòng)拼圖軟件

            ·樣品觀察

            ·TESCAN Flow™ (離線處理軟件)

            根據(jù)實(shí)際配置和需求

            創(chuàng)新點(diǎn)

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            產(chǎn)品質(zhì)量

            10分

            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性?xún)r(jià)比

            10分
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            TESCAN MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡信息由泰思肯(中國(guó))有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于TESCAN MIRA場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢(xún)。
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