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X-Cite
臺(tái)式EDXRF光譜儀
多元素分析儀
能量色散X射線熒光光譜儀X-Cite
實(shí)用型臺(tái)式X射線熒光光譜儀X-Cite配備獨(dú)特幾何結(jié)構(gòu)的陽(yáng)極靶及高功率X射線激發(fā)源,適用于傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室工作臺(tái),并集成完整計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、6個(gè)自定義濾光片及樣品托盤(pán)。
Xenemetrix臺(tái)式X射線熒光光譜儀采用高分辨率探測(cè)器及高性能X射線管,同時(shí)配備樣品相機(jī)及樣品盤(pán),可容納多種尺寸類型的樣品。
為發(fā)揮系統(tǒng)**性能,獲得精確測(cè)量,濾光片可根據(jù)系統(tǒng)硬件配置為每次測(cè)量要求自適應(yīng)切換。
無(wú)損元素分析
通過(guò)使用標(biāo)樣或無(wú)標(biāo)樣方法(基本參數(shù))對(duì)Na(11)- U(92)范圍元素進(jìn)行定性及定量分析。
X射線源
激發(fā)性能達(dá)40kV,18W,Rh靶材料,分析濃度探測(cè)限范圍可達(dá)ppm至100%,在復(fù)雜的應(yīng)用中表現(xiàn)其**的性能。
Analytix專用軟件
Analytix專用軟件支持在野外進(jìn)行操作并快速得到結(jié)果。
硅漂移探測(cè)器(SDD)
高計(jì)數(shù)率及分辨率的SDD探測(cè)器,分辨率可達(dá)125eV,探測(cè)元素范圍可達(dá)Na(11)- U(92)。
濾光片
考慮不同的應(yīng)用要求,6個(gè)管式濾光片可針對(duì)痕量元素和微量元素自定義快速準(zhǔn)確的切換。。
自動(dòng)校準(zhǔn)
系統(tǒng)可根據(jù)周圍環(huán)境的變化針對(duì)材料自動(dòng)校準(zhǔn)。
Analytix專用軟件
Analytix軟件能夠提供準(zhǔn)確全面,易于理解的分析結(jié)果,適用于多種應(yīng)用,并能夠高效的在短時(shí)間內(nèi)執(zhí)行多種測(cè)量。
軟件采用高度直觀的界面設(shè)計(jì),簡(jiǎn)單易用的GUI,適用于不同層次用戶,廣泛的應(yīng)用于各種元素工作任務(wù)。
Analytix可提供客戶-服務(wù)器操作員模式,這種模式支持通過(guò)WiFi或GPS進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)傳輸,并在其它位置遠(yuǎn)程輕松管理系統(tǒng)。分析過(guò)程可在現(xiàn)場(chǎng)完成,分析結(jié)果可傳輸至每個(gè)客戶端并伴隨相關(guān)的定位數(shù)據(jù)及測(cè)試識(shí)別信息。
X-Cite應(yīng)用領(lǐng)域
暫無(wú)數(shù)據(jù)!