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        TX 2000全反射X熒光光譜儀
        TX 2000全反射X熒光光譜儀

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        面議

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        品牌

        產(chǎn)地

        意大利

        樣本

        暫無
        北京利曼科技有限公司

        會(huì)員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

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        儀器簡介

        TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對(duì)比的是,傳統(tǒng)能譜采用原級(jí)X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級(jí)X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時(shí)減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。

        TX2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺(tái)儀器上,創(chuàng)新光學(xué)編碼器的步進(jìn)電機(jī),保證精確角度測(cè)量,軟件控制Mo/W靶可自由切換,采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測(cè)器。

        應(yīng)用范圍

        TX2000 可檢測(cè)從鈉Na到钚Pu所有元素含量,可進(jìn)行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),廣泛的應(yīng)用在環(huán)境分析(水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物),制藥分析(生物體液和組織樣品中的有害元素),法醫(yī)學(xué)(微小證據(jù)分析),化學(xué)純度分析(酸、堿、鹽、溶劑、水、超純?cè)噭?,油品分析(原油、輕質(zhì)油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半導(dǎo)體材料分析(揮發(fā)相分解),核材料工業(yè)(放射性元素分析)。

        主要特點(diǎn)

        ■ 單內(nèi)標(biāo)校正,有效簡化了定量分析,無基體影響;

        ■ 對(duì)于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析;

        ■ 多元素實(shí)時(shí)分析,可進(jìn)行痕量和超痕量分析;

        ■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響;

        ■ 獨(dú)特的液體或固體樣品的微量分析,分析所需樣品量??;

        ■ 優(yōu)良的檢出限水平,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚;

        ■ 出色的動(dòng)態(tài)線性范圍;

        ■ 無需任何化學(xué)前處理,無記憶效應(yīng);

        ■ 非破壞性分析,運(yùn)行成本低廉。

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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價(jià)比

        10分
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