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        M-3手持式四探針測(cè)試儀
        M-3手持式四探針測(cè)試儀

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        面議

        型號(hào)

        品牌

        晶格電子

        產(chǎn)地

        蘇州

        樣本

        暫無(wú)
        蘇州晶格電子有限公司

        金牌會(huì)員

        |

        第5年

        |

        生產(chǎn)商

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        • 分辨率:

          -
        • 重現(xiàn)性:

          -
        • 儀器原理:

          電阻式計(jì)數(shù)
        • 分散方式:

          -
        • 測(cè)量時(shí)間:

          -
        • 測(cè)量范圍:

          0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm
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        M-3手持式四探針測(cè)試儀

        33.jpg

        二、概述

              3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

              成套組成:由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測(cè)試臺(tái)。

        儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用!

              探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

              《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入

        儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。

        儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。

        三、基本技術(shù)參數(shù)

        1. 測(cè)量范圍、分辨率

            電    阻:   0.010Ω ~ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ~ 10 Ω

            電 阻 率:   0.010Ω~ 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 ~ 10 Ω-cm

            方塊電阻:   0.050Ω~ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ~ 10 Ω/□

        2. 可測(cè)材料尺寸

           手持方式不限材料尺寸,但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下:

            直    徑:SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm。

            SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。

            長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.

            測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.

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        聯(lián)系人:王經(jīng)理

        聯(lián)系電話:13656 225155

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