參考價(jià)格
面議型號(hào)
略品牌
晶格電子產(chǎn)地
蘇州樣本
暫無(wú)誤差率:
-分辨率:
-重現(xiàn)性:
-儀器原理:
電阻式計(jì)數(shù)分散方式:
-測(cè)量時(shí)間:
-測(cè)量范圍:
0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm看了M-3手持式四探針測(cè)試儀的用戶又看了
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M-3手持式四探針測(cè)試儀
二、概述
3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
成套組成:由M-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測(cè)試臺(tái)。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動(dòng)/自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程可選;測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配專用探頭,也可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
《四探針探頭特點(diǎn)與選型參考》點(diǎn)擊進(jìn)入
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測(cè)試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1. 測(cè)量范圍、分辨率
電 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω
電 阻 率: 0.010Ω~ 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 ~ 10 Ω-cm
方塊電阻: 0.050Ω~ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□
2. 可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下:
直 徑:SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm。
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
聯(lián)系人:王經(jīng)理
聯(lián)系電話:13656 225155
微信:13656 225155
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在當(dāng)今全球電動(dòng)化趨勢(shì)加速發(fā)展的背景下,鋰電池作為新能源汽車和儲(chǔ)能系統(tǒng)的核心部件,其需求量急劇增長(zhǎng)。然而,隨著電動(dòng)車和儲(chǔ)能設(shè)備的廣泛應(yīng)用,面對(duì)龐大的退役電池量,如何高效、環(huán)保地回收鋰電池成為了一項(xiàng)緊迫而
今日,杭州孫氏鋁業(yè)有限公司的客戶攜帶氧化鋁粉末來(lái)到蘇州晶格,進(jìn)行專業(yè)的粉末電阻率測(cè)試。為滿足客戶需求,蘇州晶格的技術(shù)人員采用了多款粉末電阻率測(cè)試儀,全面測(cè)試氧化鋁粉末的導(dǎo)電性能。在此次測(cè)試中,技術(shù)團(tuán)隊(duì)
近日,江蘇某新材料有限公司為驗(yàn)證其新研發(fā)的二氧化鋯包覆材料粉末電阻率性能,特地來(lái)到蘇州晶格科技有限公司進(jìn)行專業(yè)測(cè)試。蘇州晶格作為國(guó)內(nèi)粉末電阻率測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)軍企業(yè),憑借其高精度、高效率的測(cè)試儀器以及卓越