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        HH振動樣品磁強計
        HH振動樣品磁強計

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        面議

        型號

        HH系列

        品牌

        爭先

        產地

        南京

        樣本

        暫無
        南京南大儀器有限公司

        金牌會員

        |

        第12年

        |

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        • 儀器原理:

          其他
        • 分散方式:

          正態(tài)分布
        • 測量時間:

          1min
        • 測量范圍:

          3~4*10-5(H<10K0e)
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        一. 概述:

          作為物質(特別是鐵磁性材料)內稟磁性檢測的通用設備,振動樣品磁強計(VSM)因其投資小、堅固耐用,特別是運轉費用極低等顯著優(yōu)點而被世界各國廣泛運用于科研、教學和生產檢測等眾多領域,為人類的科技進步作出了巨大貢獻。其工作原理大體如圖所示。



         

          其中,驅動元w的功率輸出饋給振動子v,以使振桿p帶動被外磁化場He磁化了的樣品s做小幅正弦式上下振動,探測線圈C所“感知”到的樣品s的信號電壓輸出饋給相關接受放大系統(tǒng)(-K)。磁場探測單元G的輸出VH與(-K)放大單元的輸出VJ同相位地一并饋給數據處理單元D。從而當He變化一個周期后,D即可繪出樣品s的J-He曲線,此處的J定義為樣品s的總磁矩,即J=MV=σm,其M、V、σ、m分別表示樣品s的磁化強度,體積,比(質量)磁化強度及質量。D所處理的是兩路電壓信號,即(-K)一路代表磁矩而G一路代表相對應的外磁化場He,因此必須特別注意*后繪制出的J-He曲線(或M-He、σ-He)未必能正確表示所測樣品s的磁特性,因為VSM為開磁路測量,其所記錄的磁化場He未必就是樣品s的內磁場,要想得到s的真實磁化強度與內磁場Hi的函數關系,必須將所測得的He轉化成Hi,并將所測J-He曲線轉化成J-Hi曲線——此曲線才是樣品s的真實特性。要做到這點,就必須預知樣品s的在He方向上的退磁因子N,利用Hi=He-NM關系逐點求出與(MHe)相對應的坐標點(MHi),從而繪成M-Hi(或J-Hi)曲線,并可利用B=Hi+4πM的關系式繪制出技術參量B-Hi曲線,由此曲線求得諸如硬磁材料樣品s的剩磁Br、矯頑力BHc、**磁能級(BHi)max等磁學量。要做到以上幾點,關鍵是要知道s在被測方向上的N,而這在一般情況下是辦不到的。通常在旋轉橢球體及其退化形式如球形、薄膜形、線形等特殊形狀的樣品時,方能夠用VSM準確測出內稟磁性與內磁化場的函數關系,并可由此關系推演出有關技術參量(即B-Hi)。從此點也可說VSM的**功能是測材料的飽和磁化強度,不提先決條件而夸大VSM功能的宣傳內容都是不可取的。

          VSM有一項衡量其水平高低的主要技術指標:**靈敏度。此數值應指在特定條件下(主要是指磁極與樣品的距離以及外磁化場He的大小)該設備所能探測到的樣品*小信號,即小于此數值的信號將被淹沒在背景噪音中而無法檢測出。

          一般而論,磁極間距越小,磁極越靠近樣品,靈敏度將越高,但隨之而來的則導致磁場鞍部區(qū)變窄,測試結果的重復性降低,不可靠性增大,這是我們不希望出現的現象..而要改變此情況,就必須將檢測線圈間距增加(即磁極間距增大),但此時將導致**靈敏度的下降。因此,被測信號的可信賴度與系統(tǒng)的**靈敏度是互相矛盾的,單強調一方面顯然是不恰當的。另外,較小的磁極間距無法作變溫測量。我廠產品的磁極間距為50mm,檢測線圈間距為30mm,常溫與高、低溫測量都是在此條件下進行,這既保證了測試結果的可靠性,又保證了具有足夠高的靈敏度(3-6×10-5emu)。

          下圖是我廠產品中檢測線圈間距與**靈敏度間的實測結果:



         

          He越大則可能導致背景噪音增大從而**靈敏度下降,這實際上是磁場電源質量好壞的一種體現。我廠產品的**靈敏度測試條件是在額定**磁場的80%內測量。

          故而,凡不提前提條件而僅表述VSM的**靈敏度,是有誤導使用者之嫌。另外,**靈敏度是以背景噪音的尺度來衡量的,因而,對噪音的標度方法不同(采用均方值?峰-峰值?),即使是同一設備,其結果也不同。我單位采用的是峰-峰值標度方法。

          
        二.本廠生產的VSM型式規(guī)格:

          1.低場型(LH型)

          利用無鐵芯線圈對產生磁化場,**值為±400 Oe;無觸點平滑過零自動掃描電源,有手動、自動兩種工作模式,在自動狀態(tài)下可以人為控制掃描速度。特點為無電磁鐵型的剩磁效應,操作空間大,磁場均勻空間廣,特別適合特軟磁性薄膜的測量工作。由于其探頭可隨時移出工作區(qū),因而可適合特軟薄膜磁電阻效應的測量。(諸如GMR、TMR、AMR、鐵磁/反鐵磁交換偏置效應等的研究工作)。

          由于其投資少,還特別適合高年級學生及研究生的實驗教學工作。

          技術參數及特點:Hmax=±400 Oe,在此范圍內可任意調節(jié)、且不用高斯計檢測磁場。樣品所處空間位置可由振動頭三維調節(jié),故極易將樣品置于**工作點,**靈敏度3~6×10-5emu(探測線圈間距30mm時);探測線圈間距可人為隨時調整,以適用不同需要。由于探測線圈可方便地移離工作區(qū)而將均勻磁場區(qū)出空,故在配以磁電阻測量單元時,可方便地進行MR的檢測工作,可作教學設備。配以兩路數據處理單元以實現實時曲線的觀察、記錄和保存;可配變溫裝置以實現變溫測量。

          銷售記錄

        中科院物理所

        首都師范大學

        復旦大學

        南京大學

        東南大學

        福建師范大學

        深圳大學

        石油大學

        浙江師范大學

        中國科技大學

        山西師大


         

          2.電磁鐵型(HH型)

          電磁鐵配以可調大功率自動掃描電源以獲取所需外磁化場,樣品驅動單元直接架設在電磁鐵磁軛上以實現造型的美觀化,且可調節(jié)樣品的任意被測方向,以實現各向異性的檢測需求。磁場強度及靈敏度檔次可由用戶自行決定。

          技術規(guī)格及特點:

          1、磁化場由電磁鐵和高穩(wěn)定度、低紋波系數的自動平滑過零掃描電源聯合提供,同時,電源設有手動調節(jié)模式,可設置在所需穩(wěn)恒磁場的恒流狀態(tài)下測量;在自動掃描模式狀態(tài),能在設定的磁化場范圍內,通過選定的掃描速度而實現在該磁場范圍內的自動掃描。目前,**磁場強度有2×104Oe、1.5×104Oe、1×104Oe等可供選擇;

          2、振動頭(即前述的V)可在三維方向調節(jié)振桿(P)的位置,因而可將樣品(s)置于**工作點。

          3、磁場大小由多檔高斯計直接測量,其表頭直接顯示實際磁場大小并將相應信號饋給數據處理單元,以實現與磁矩測量單元一 一對應的實時數字化記錄。

          4、檢測線圈由相應機構緊壓在兩極面上,其檢測線圈**間距為30mm,以保證該系統(tǒng)可以實現變溫測量。且可隨時取下檢測線圈以讓出**的可利用磁場空間作其他用處(如MR測量等)。磁矩測量信號和與其對應的其他信號(磁場、溫度等)可通過電腦化X-Y記錄儀實現計算機數據處理。

          在上述檢測線圈間距以及磁化場≤104Oe的情況下,背景噪音峰-峰值(即**靈敏度)優(yōu)于3~6×10-5emu,本廠也可根據客戶需求,提供價格較便宜的高場、更高靈敏度但非變溫型VSM

          銷售記錄

        北京航空航天大學

        華東師范大學

        同濟大學

        南京大學

        東南大學

        南京航空航天大學

        深圳大學

        河海大學

        國防科技大學

        江蘇大學

        湖南大學

        揚州大學

        云南大學

        湖北大學

        山西師范大學

        西南師范大學

        華僑大學

        中北大學

        臺州學院

        濰坊學院

        平壤大學

        電子部14所

        電子部9所

        長沙礦冶研究院

         

          正在調試單位:南京工業(yè)大學

          正在制造單位:安徽工業(yè)大學、集美大學

          
        三、選配件

          1、薄膜磁電阻測量系統(tǒng):采用差值法測量MR以實現△R/R≤0.1%的高靈敏測量;樣品夾具可帶動樣品做360o轉動以實現不同方向上的MR觀察,特別適合配在本場生產的LH型VSM上。

          2、變溫裝置;

          ①高溫-采用鉑絲作為發(fā)熱元件,水體冷卻以保證在**600℃的情況下爐體外表仍為室溫,有效地保護VSM的檢測線圈不受到傷害,且不致產生因檢測線圈所處溫度不同導致的定標常數的變化。此系統(tǒng)采用手控調節(jié)的方法,以保證在導入爐體后,VSM整體靈敏度不出現下降的現象。以上兩點有效地克服了高溫測量時所出現的一些通病,可作為居里溫度(可自動記錄)和內稟磁性隨溫度變化規(guī)律的檢測。

         ?、诘蜏亍蓪崿F室溫至77oK的溫控測量。







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