誤差率：
分辨率：
0.01重現(xiàn)性：
儀器原理：
圖像分析分散方式：
測(cè)量時(shí)間：
60s測(cè)量范圍：
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雙電測(cè)電四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀的概括
一.應(yīng)用說(shuō)明Widely used：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇.
雙電測(cè)電四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀的概括
二．描述Description：
采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
雙電測(cè)電四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀的概括
三.參數(shù)資料Parameters
規(guī)格型號(hào)/ model | FT-341 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-6～2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流Test current | 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
4.電流精度Current | ±0.1% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測(cè)試方式 | test mode雙電測(cè)量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差errors | ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples） |
10.選購(gòu)功能choose to buy | 選購(gòu)1.pc軟件； 選購(gòu)2.方形探頭； 選購(gòu)3.直線(xiàn)形探頭； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái)；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測(cè)試探頭test probe | 探針間距選購(gòu)：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
智能粉體特性綜合測(cè)試儀優(yōu)勢(shì)及特點(diǎn)分析1）.高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊；2）.7寸觸摸屏或PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過(guò)程和測(cè)試結(jié)果通過(guò)PC軟件曲線(xiàn)圖位表示，并自動(dòng)生成
2020-03-05
智能粉體特性測(cè)試儀與非智能型比較優(yōu)勢(shì)分析 一、 功能對(duì)比：1.1.自動(dòng)型特點(diǎn)：通過(guò)高精度自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)，智能化測(cè)量系統(tǒng)，采用集成電路系統(tǒng)模塊；觸摸屏或者PC軟件兩種操作模式并存：測(cè)試過(guò)程和測(cè)試結(jié)果通
2020-03-05
2020-03-05
智能粉末電導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)1.PC軟件界面分析粉體在不同的壓縮狀態(tài)下壓實(shí)密度與電導(dǎo)率的變化函數(shù)關(guān)系，2.描述粉體在粒度、含水量、溫濕度、等不同條件下壓縮和電阻率的函數(shù).3.具備校準(zhǔn)功能模塊：提供壓力，高度
2020-03-05
四探針電阻率測(cè)試儀是一款主要用于測(cè)量粉末材料電阻率試驗(yàn)的專(zhuān)用儀器。四探針電阻率測(cè)試儀對(duì)于半導(dǎo)體材料的電阻率，一般采用四探針、三探針和擴(kuò)展電阻。電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的
一、 參照標(biāo)準(zhǔn)Meet the standards：ASTM標(biāo)準(zhǔn)b329 – 90;GB/T 1479.2-2011 GB5060；USP2
LX-9830G 恒流恒壓電壓降檢測(cè)儀詳情介紹操作流程及步驟：1. 接通電源，開(kāi)機(jī)2. 設(shè)置好測(cè)試條件.
粉體流變儀詳情介紹粉體流變儀是一種用于測(cè)試粉體材料流變性質(zhì)的儀器。它可以測(cè)量粉體的流變性、塑性、彈性、粘度和壁摩擦等性質(zhì)。粉體流變儀的主要工作原理是旋轉(zhuǎn)錐體或板式結(jié)構(gòu)，通過(guò)測(cè)量錐體或板之間的粉體物料所
粉末流動(dòng)性-粉體和顆粒測(cè)試儀器方案粉末流動(dòng)性是粉體材料的一個(gè)重要性質(zhì)，它表示粉體在受到外力或自身重力的作用下自由流動(dòng)的能力。粉末流動(dòng)性的好壞對(duì)于產(chǎn)品的生產(chǎn)、包裝、運(yùn)輸和存儲(chǔ)等方面都具有重要的影響。粉末
壓實(shí)密度和粉末電阻率-粉體和顆粒測(cè)試儀器方案壓實(shí)密度和粉末電阻率是粉體和顆粒測(cè)試中常用的兩個(gè)指標(biāo)。針對(duì)這兩個(gè)指標(biāo)，包括以下幾種：壓實(shí)密度測(cè)試儀：壓實(shí)密度測(cè)試儀是一種用于測(cè)量粉體或顆粒密度的儀器。它通過(guò)
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