編號：NMJS03162
篇名：納米顆粒暴露評價研究綜述
作者：崔玲； 沈臻霖； 唐仕川；
關鍵詞：納米科技； 暴露評價； 納米顆粒； 職業(yè)衛(wèi)生； 工作現(xiàn)場；
機構： 北京市勞動保護科學研究所職業(yè)安全健康重點實驗室；
摘要： 對國外最新的人造納米顆粒的暴露評價方法和研究結果進行綜述,旨在為我國今后工作現(xiàn)場的職業(yè)衛(wèi)生暴露評價提供指導。檢索和查閱2000—2010年發(fā)表的涉及納米顆粒暴露評價的同行評審期刊的英文文獻和報告,并對暴露評價設備和方法進行比較和分析,歸納描述部分研究結果,總結納米顆粒暴露評價的特殊性和挑戰(zhàn),探討解決這些問題的關鍵步驟。最后,提出今后在職業(yè)現(xiàn)場開展納米暴露評價的2個可行的方法。
