編號(hào)：NMJS03583
篇名：納米復(fù)合材料中界面動(dòng)態(tài)特性的掃描靜電顯微技術(shù)研究
作者：彭金平； 張冬冬； 關(guān)麗； 張暉； 張忠； 裘曉輝；
關(guān)鍵詞：界面作用； 介電響應(yīng)； 靜電力； 環(huán)氧樹(shù)脂； 納米復(fù)合材料；
機(jī)構(gòu)： 國(guó)家納米科學(xué)中心； 中國(guó)人民大學(xué)化學(xué)系；
摘要： 納米復(fù)合材料中的微觀界面結(jié)構(gòu)和界面作用對(duì)材料的宏觀介電性能,如介電常數(shù)、介電損耗、擊穿強(qiáng)度等有十分重要的影響.本文發(fā)展了一種基于掃描靜電顯微探針技術(shù)的測(cè)量方法,可以直接表征二氧化鈦/環(huán)氧樹(shù)脂納米復(fù)合材料的微觀界面結(jié)構(gòu)及相應(yīng)的動(dòng)態(tài)介電響應(yīng)行為.實(shí)驗(yàn)中利用掃描探針的納米尺度分辨能力,探測(cè)到不同溫度下環(huán)氧樹(shù)脂納米復(fù)合材料的局域動(dòng)態(tài)介電響應(yīng)變化過(guò)程,從而獲得納米顆粒與高分子界面相互作用及極化相關(guān)的溫度特性.進(jìn)一步通過(guò)對(duì)二氧化鈦納米顆粒進(jìn)行表面修飾,得到了兩種不同特性的二氧化鈦/環(huán)氧樹(shù)脂界面,驗(yàn)證了不同界面作用引起的復(fù)合材料界面區(qū)域與非界面區(qū)域高分子鏈介電損耗圖像的反差.
