編號：FTJS03434
篇名：YLuAG:Ce粉體的發(fā)光及閃爍特征: 制備方法及缺陷效應(yīng)(英文)
作者：張孔； 劉茜； 蘇曉彬； 鐘紅梅； 石云； 潘裕柏；
關(guān)鍵詞：YLuAG:Ce熒光粉； 合成； 發(fā)光； 衰減時間； 缺陷；
機構(gòu)： 高性能陶瓷和超微結(jié)構(gòu)國家重點實驗室中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所； 中國科學(xué)院研究生院； 中國科學(xué)院透明光功能無機材料重點實驗室中科院上海硅酸鹽研究所；
摘要： 采用硝酸鹽熱解法(NP)、碳酸氫銨共沉淀法(CP)以及檸檬酸鹽燃燒法(CC)分別制備了YLuAG:Ce(Y0.600Lu2.364Al5O12:Ce0.036)熒光粉體. 通過傅里葉變換紅外光譜(FTIR), X 射線衍射(XRD), 透射電子顯微鏡(TEM), 光致發(fā)光(PL)及熱釋光(TL)等表征手段研究了不同方法制備粉體的反應(yīng)結(jié)晶過程、晶粒形貌、激發(fā)發(fā)射光譜、閃爍性能等. 對比研究表明, 三種方法制備的YLuAG:Ce粉體其表面及體相缺陷數(shù)量及分布存在差異, 從而導(dǎo)致了發(fā)射光譜峰位的偏移和快慢衰減時間分量的比例變化. 粉體的熱釋光譜分析結(jié)果進(jìn)一步顯示: 不同粉體熱釋光譜的主發(fā)射峰峰位及強度明顯不同, 從側(cè)面說明了合成方法誘發(fā)了粉體內(nèi)的缺陷, 而粉體內(nèi)具有不同陷阱深度的缺陷數(shù)量及陷阱復(fù)合幾率對材料發(fā)光性能有較大影響.
