編號：CSJS00074
篇名：鋁電解質(zhì)分子比、Al_2O_3、CaF_2的X射線熒光光譜法測定
作者：林九； 喻小春； 趙海兵； 王玉杰；
關鍵詞：X射線熒光光譜法； 鋁電解質(zhì)； 檢測；
機構(gòu)： 江蘇大屯鋁業(yè)有限公司；
摘要： 鋁電解質(zhì)分子比、Al2O3、CaF2是鋁電解生產(chǎn)中的幾項重要指標。用X射線熒光光譜法測定電解質(zhì)中各元素的濃度,達到計算分子比、測試氧化鋁和氟化鈣濃度的目的。將研磨到一定粒度的樣品在30kN的壓力下壓成圓片,然后在優(yōu)化的熒光測試條件下進行測定,采用電解質(zhì)標樣建立校準曲線,引入數(shù)學模型校正基體效應,扣除背景干擾,得到可以用于指導生產(chǎn)的各項理化指標結(jié)果。該方法已用于多元鋁電解質(zhì)成分的測定,分子比、CaF2的測定結(jié)果與化學定值相近,Al2O3的測試結(jié)果與化學定值有最大0.20%的誤差,但對于電解生產(chǎn)中氧化鋁濃度的模糊控制并無大方面的影響,同樣適用于指導生產(chǎn)。
