編號(hào)：NMJS03217
篇名：納米壓痕方法在材料研究中的應(yīng)用
作者：郭荻子； 林鑫； 趙永慶； 曹永青；
關(guān)鍵詞：納米壓痕； 薄膜； 晶體缺陷； 微區(qū)力學(xué)性能； 相變；
機(jī)構(gòu)： 西北工業(yè)大學(xué)凝固技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室； 西北有色金屬研究院；
摘要： 納米壓痕方法具有高的載荷-位移分辨率,不僅能測(cè)量出薄膜材料的各種力學(xué)性能,還能在實(shí)驗(yàn)中反映出塊狀材料內(nèi)部晶體學(xué)缺陷的變化規(guī)律、相變特征,已經(jīng)成為從原子量級(jí)到微米級(jí)研究材料各種性能的重要表征手段。介紹了納米壓痕方法在材料研究中的應(yīng)用,在此基礎(chǔ)上提出了納米壓痕方法研究中存在的問(wèn)題,并展望了其前景。
