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　　YH-DIPS系列粉體干法圖像粒度儀是一種用于顆粒物料粒度與粒形分析的先進設備。該系統(tǒng)采用光學成像技術結合計算機圖像處理技術，能夠準確地測量顆粒大小分布以及顆粒的形態(tài)特征。以下是YH-DIPS-10型號的主要功能特點及其技術優(yōu)勢：

　　功能特點

　　靈活的進樣方式：支持自重進樣，適用于流動性較好的顆粒物料;

　　可選配負壓進樣方式，適用于流動性較差或易團聚的顆粒物料，確保進樣均勻一致。

　　廣泛的測量范圍：量程超過2微米，能夠滿足從細微顆粒到較大顆粒的不同需求。

　　高品質光學組件：配備0.75-10倍遠心鏡頭，NA值大于0.1，提供高清晰度的圖像質量;

　　可調(diào)倍率(1.3-10X)，適應不同大小顆粒的觀測需求。

　　高分辨率成像：最大視場分辨率可達3000*2000像素，每像素對應3.45微米，確保細節(jié)呈現(xiàn)清晰;

　　深度范圍(DOF)從13微米到300微米，覆蓋廣泛，適合多種顆粒大小分析。

　　高速成像與處理：60fps的幀率，保證了圖像采集的速度，適合動態(tài)分析;

　　單色LED光源提供穩(wěn)定的照明條件，有利于圖像對比度的提升。

　　全面的結果輸出：輸出粒度分布曲線，直觀展示顆粒大小比例;

　　提供多種顆粒形態(tài)學參數(shù)統(tǒng)計，如圓度、長徑比等;

　　單顆粒形態(tài)學分析，深入了解個體顆粒特征。

　　技術優(yōu)勢

　　檢測范圍寬廣：支持從2微米到3毫米的檢測范圍，覆蓋了絕大多數(shù)工業(yè)顆粒物料的粒度分析需求。

　　專業(yè)光學設計：遠心變倍鏡頭設計，避免了傳統(tǒng)鏡頭在不同放大倍數(shù)下可能引起的形貌畸變問題;

　　兼容不同類型粒子測試，無論是規(guī)則還是不規(guī)則顆粒均可準確測量。

　　先進算法支持：引入FIPS超分辨算法及AI智能算法，提升圖像分辨率，確保數(shù)據(jù)的準確性;

　　配置AI分類功能，可追蹤顆粒物來源，幫助識別不同批次或來源的顆粒差異。

　　通過以上功能特點和技術優(yōu)勢，YH-DIPS系列粉體干法圖像粒度儀為科學研究、產(chǎn)品質量控制及生產(chǎn)過程優(yōu)化提供了強有力的工具。無論是實驗室研發(fā)還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境，該系統(tǒng)都能發(fā)揮重要作用。