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        復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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        Gentle Mill 離子精修儀在安徽大學(xué)電鏡中心順利運行,歡迎預(yù)約DEMO!

        Gentle Mill 離子精修儀在安徽大學(xué)電鏡中心順利運行,歡迎預(yù)約DEMO!
        復(fù)納科技  2024-03-21  |  閱讀:898

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        “ 離子精修儀 ”

        消除 FIB 鎵離子導(dǎo)致的樣品非晶層問題


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        “裝機成功啦!”

        在科學(xué)研究的道路上,每一次突破都離不開先進的科研設(shè)備的支持。近日,由曾獲諾貝爾學(xué)獎(1964)的 Prof. A. M. Prohorov 和其合作者創(chuàng)立的匈牙利品牌 Technoorg Linda 旗下的  Gentle Mill 離子精修儀設(shè)備在安徽大學(xué)電鏡中心順利安裝,經(jīng)過工程師們的精心調(diào)試,設(shè)備各項參數(shù)達標,已經(jīng)成功實現(xiàn)了在實驗室中的正常運行,并且展現(xiàn)出了令人滿意的實驗結(jié)果。


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        設(shè)備順利裝機及安徽大學(xué)電鏡中心工作人員正在使用設(shè)備


        01. 關(guān)于安徽大學(xué)電鏡中心


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        安徽大學(xué)電鏡中心是學(xué)校重點建設(shè)的高端平臺之一。本著服務(wù)安大、覆蓋安徽、面向全國、對標國際的宗旨,為高等學(xué)校、科研院所及企事業(yè)單位提供對外測試服務(wù),是國內(nèi)一流的電鏡微觀結(jié)構(gòu)表征平臺。中心目前已擁有一臺 Crossbeam 550 FIB-SEM 雙束電鏡,一臺 F200 場發(fā)射電鏡,一臺 NEOARM 單球差電鏡,一臺 Titan Themis Z 雙球差電鏡。另外,中心還了配備熱電一體,氣體加熱,液體電化學(xué)以及力電一體等全套原位樣品桿。


        02. 為什么使用離子精修儀?

        安徽大學(xué)電鏡中心的工作人員需要對 FIB 減薄后的樣品進行電子能量損失譜(EELS)分析。但當前面臨的問題是, FIB 加工后帶來的非晶層以及注入的鎵離子都會對 EELS 分析帶來干擾,掩蓋了樣品的真實信息。


        通過使用 Gentle Mill 離子精修儀,其配備了專利設(shè)計的低能氬離子槍,離子束能量最低可達 100 eV,可把非晶層厚度精修到 1 nm 以下,由此工作人員可以撥開非晶層的迷霧,直接獲得樣品的真實信息。


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        03. 離子精修案例分享

        接下來我們一起看看經(jīng)過離子精修儀修復(fù) FIB 樣品的相關(guān)案例(鑒于對安徽大學(xué)科研成果的保護,我們未能直接放本次實驗 DEMO 的結(jié)果)


        A 案例 1


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        經(jīng) Gentle Mill 設(shè)備精修后的 PbTiO3/SrTiO3 界面 HRTEM 圖像。


        B 案例 2


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        ZnO 中添加 In2O3 的材料經(jīng) Gentle Mill 精修后的 HRTEM 圖像。


        C 案例 3


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        Bi0.9Sm0.1FeO3 樣品經(jīng) Gentle Mill 精修處理之后的 HRTEM 圖片。


        D 案例 4


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        La2/3-xLi3xTiO3 (LLTO) 樣品去除 FIB 產(chǎn)生的表面非晶層的完整流程。(a) 30 kV FIB 切割樣品的HRTEM照片。(b-d) 連續(xù)使用低能氬離子精修后的 HRTEM 結(jié)果。圖片中標識了對應(yīng)的精修參數(shù)和非晶層厚度。


        E 案例 5


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        Gentle Mill 離子精修后,Zr 和 ZrO2 中 Nb 析出物的 EELS 分析結(jié)果


        產(chǎn)品咨詢 & DEMO 邀請

        為了讓更多的科研人員親自體驗到 Gentle Mill 離子精修儀的優(yōu)越性能,我們誠摯邀請您聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品詳情、應(yīng)用資料或預(yù)約 DEMO,相信它將為您的研究工作帶來新的啟示和突破。


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        ABOUT

        離子精修儀介紹


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        Gentle Mill 離子精修儀專門用于解決聚焦離子束(FIB)高能鎵離子導(dǎo)致的樣品非晶層和離子注入問題。


        離子精修儀配備專利設(shè)計的低能氬離子槍(100 - 2000 eV,連續(xù)可調(diào)),可在比FIB 更低的電壓下精修樣品,從而大幅減少損傷層厚度,直至 1 nm 以下。該法可對 FIB 樣品/ TEM 樣品進行表面減薄、表面后處理、去除非晶層和氧化層,實現(xiàn)對樣品的表面清潔和最終精修,展現(xiàn)樣品原始形貌結(jié)構(gòu),是改善 FIB 樣品的一種有效手段。


        此外,離子精修儀還可以部分去除 TEM 觀察時在樣品表面產(chǎn)生的碳沉積,從而可以實現(xiàn)多次利用寶貴的 FIB 樣品。

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