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            HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

            3 年白金會(huì)員

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            HORIBA 原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)XploRA Nano

            HORIBA 原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)XploRA Nano
            • 品牌:HORIBA
            • 產(chǎn)地:法國
            • 關(guān)注度:3583
            • 型號(hào):XploRA Nano
            • 報(bào)價(jià):面議
            • 信息完整度:
            核心參數(shù)
            • 分辨率:1cm-1
            • 重現(xiàn)性: <0.1cm-1
            • 儀器原理:動(dòng)態(tài)色譜法
            • 測量范圍:50-9000cm-1
            產(chǎn)品介紹

            詳細(xì)信息:
                將AFM的納米量級(jí)高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術(shù)耦合起來,實(shí)現(xiàn)高空間分辨率下物理特性、化學(xué)結(jié)構(gòu)測試。

            產(chǎn)品特點(diǎn):
            ● AFM和拉曼同區(qū)域成像
            ● 針尖增強(qiáng)拉曼(TERS)
            ● AFM光杠桿反饋激光自動(dòng)準(zhǔn)直
            ● 可同時(shí)提供上方、側(cè)向耦合光路,均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
            ● 高頻掃描頭,對(duì)環(huán)境噪聲不敏感

            AFM-拉曼耦聯(lián)配置 
               HORIBA Scientific
            拉曼技術(shù)可與掃描探針顯微鏡(SPM)進(jìn)行耦合,構(gòu)建一個(gè)功能強(qiáng)大且靈活的AFM-拉曼平臺(tái)。研究人員可根據(jù)期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
                所有具備激光掃描技術(shù)的配置都可以通過對(duì)掃描探針上的激光反射進(jìn)行快速成像或者根據(jù)針尖增強(qiáng)拉曼散射信號(hào)對(duì)熱點(diǎn)進(jìn)行成像,因而該配置能夠準(zhǔn)確、可靠地將激光定位到
            SPM探針針尖上。
                高通量的光信號(hào)收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時(shí)采集每一點(diǎn)的SPM信號(hào)和拉曼光譜。

            =

            將您的所有需求集成到一個(gè)強(qiáng)大的系統(tǒng)中

                我們所提供的**解決方案使用直接光路耦合,對(duì)其進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高通量。該平臺(tái)可以把原子力顯微鏡(AFM)、近場光學(xué)技術(shù)(SNOM,NSOM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和共焦光學(xué)光譜儀(拉曼和熒光成像)耦合到一臺(tái)多功能的儀器中,以實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)或共點(diǎn)測量。

            結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

            5.png

            單層、雙層和三層石墨烯的共點(diǎn)AFM和拉曼成像

            ● AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級(jí)別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
            ● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
            ● 同步測量的獨(dú)特平臺(tái),有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
            ● 結(jié)合高性能和易用性,HORIBA將會(huì)根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個(gè)可靠、全功能的解決方案
            ● 針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的,同時(shí)有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗(yàn)做技術(shù)支持,您可以自信地使用這一技術(shù)。

            一個(gè)工具多種可能:AFM-拉曼有助于您提高效率

            ● 快速找到納米對(duì)象
                由于納米材料具有特殊的化學(xué)屬性,拉曼峰信號(hào)較強(qiáng),因此在光學(xué)顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進(jìn)行搜索和定位。在找到樣品后,我們可以對(duì)感興趣的位置進(jìn)行形貌、機(jī)械、電學(xué)和熱能分析。

            ● 交叉驗(yàn)證您的數(shù)據(jù) 
                拉曼光譜可以證實(shí)材料的某些特性,例如前面研究的石墨烯,AFM形貌的對(duì)比度較差而難以確定層厚,拉曼則可以從另外一個(gè)角度去獲得相同的信息,此外拉曼還提供更多有關(guān)結(jié)構(gòu)和缺陷的信息,此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。

            ● 獲得感興趣納米結(jié)構(gòu)的化學(xué)信息
                在表征納米結(jié)構(gòu)時(shí),有時(shí)僅獲得物理性質(zhì)是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細(xì)的化學(xué)成分信息,這是其他SPM傳感器無法實(shí)現(xiàn)的。


            6.png

             探索TERS(針尖增強(qiáng)拉曼散射)領(lǐng)域
               TERS(或納米拉曼)可以綜合兩種技術(shù)之優(yōu)勢(shì):可獲得空間分辨率低至2nm(一般低至10nm)的化學(xué)特異性拉曼光譜成像。該技術(shù)可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。  


            多種光學(xué)配置HORIBAAFM-拉曼平臺(tái)支持多種光學(xué)方案:


            7.png

            底部耦聯(lián):針對(duì)透明樣品

            頂部耦聯(lián):針對(duì)共點(diǎn)拉曼或傾斜針尖的TERS

            側(cè)向耦聯(lián):測定不透明樣品的TERS的優(yōu)解決方案

            可提供多端口和并排配置


            注:具體配置、價(jià)格請(qǐng)咨詢當(dāng)?shù)劁N售工程師


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            自從1953年成立以來,堀場制作所已經(jīng)成長為一個(gè)主要的分析檢測儀器和設(shè)備制造商,并且以其高精尖的產(chǎn)品成功地將市場拓展到了全球各個(gè)國家和地區(qū)。堀場的產(chǎn)品幾乎應(yīng)用于所有的工業(yè)領(lǐng)域企業(yè)中的產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制,包括汽車、半導(dǎo)體、新材料、能源、冶金、食品加工以及科學(xué)研究等領(lǐng)域。堀場的發(fā)動(dòng)機(jī)排放分析儀一直在促進(jìn)著世界范圍內(nèi)的汽車廠商對(duì)低排放高燃燒效率發(fā)動(dòng)機(jī)的開發(fā);公司的大氣污染監(jiān)測儀和酸雨檢測設(shè)備在調(diào)查引起全世界關(guān)注的環(huán)境問題的原因方面起著極其重要的作用。堀場以為環(huán)境保護(hù)做貢獻(xiàn)為

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