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            丹東百特儀器有限公司

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            BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀

            • 品牌:丹東百特
            • 產地:丹東
            • 關注度:1012
            • 型號:BeNano 180 Zeta Max
            • 報價:面議
            • 信息完整度:
            核心參數
            • 儀器原理:動態(tài)光散射
            • 測量范圍:0.3 nm – 15 μm
            產品介紹

            產品介紹


            BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年推出的表征納米體系特性的光學檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等等領域的基礎研究和質量分析質量控制用途。


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            基本性能指標


            粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

              粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
              *小樣品量  3 μL
              檢測角度  173 °+90 ° + 11.2°
              分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

            沉降法粒度測試

              檢測方法  沉降法
              粒徑范圍  1μm-50μm
              檢測角度  0°
              樣品量  1-3ml

            Zate電位測試

              Zeta范圍  無實際限制
              電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
              電導率范圍  0 - ≥270 mS/cm
              Zeta測試粒徑范圍  1 nm – >120 μm  

            分子量測試

              分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

            微流變測試

              測試能力  均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

            趨勢測試

              模式  時間和溫度

            濃度檢測

              檢測方法  LEDLS
              測試能力  體積分數和數量濃度

            折光率測試

              檢測方法  楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)
              檢測角度  0°
              RI范圍  1.2-1.6
              精度  優(yōu)于0.1%
              *小樣品量  380 μL

            系統(tǒng)參數

              溫控范圍  -15°C - 120°C
              冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
              激光器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm(不同波長激光器可選)
              相關器  快、中、慢多模式,*快25 ns采樣,*多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍
              檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
              光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    



            檢測參數


            動態(tài)光散射

            ●流體力學尺寸 Dh

            ●分布系數 PD.I

            ●擴散系數 D

            ●顆粒間相互作用力因子 kd

            ●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

            ●計算分子量

            ●溶液粘度和折射率

            ●流變學信息G*,G‘,G“,η*,J


            電泳光散射

            ●Zeta電位及其分布

            ●帶電顆粒的電泳遷移率


            透射

            ●透射濁度

            ● 顆粒物濃度

            ●液體折射率

            ●沉降法粒度和粒度分布測試


            趨勢測試

            ● Zeta電位和粒徑的pH滴定

            ● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


            靜態(tài)光散射

            ● **分子量Mn、Mw、Mz

            ● 分子量分布

            ● 第二維利系數A2



            選配件


            動靜態(tài)流動模式

            BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據尺寸將樣品進行分離,依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

             

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            BAT-1自動滴定儀

            樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質環(huán)境具有強烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復性好、結果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風險。

             

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            BeScan穩(wěn)定性分析儀

            BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節(jié)約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

             

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            相關技術    


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            工商信息

            企業(yè)名稱

            丹東百特儀器有限公司

            企業(yè)類型

            有限責任公司(自然人投資或控股)

            信用代碼

            91210600726837619A

            法人代表

            董青云

            注冊地址

            丹東臨港產業(yè)園區(qū)金泉工業(yè)區(qū)甘泉路9號

            成立日期

            2001-02-22

            注冊資本

            3,000萬(元)

            有效期限

            2001-02-22 至 2050-02-22

            經營范圍

            儀器儀表的制造、銷售、維修服務、技術服務、軟件開發(fā)及銷售、電力技術研發(fā)及技術服務、會議及展覽服務、設備租賃、自有房屋租賃;經營本企業(yè)自產產品及技術的出口業(yè)務和本企業(yè)所需的機械設備、零配件、原輔材料及技術的進口業(yè)務,但國家限定公司經營或禁止進出口的商品及技術除外。(依法須經批準的項目,經相關部門批準后方可開展經營活動。)
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            丹東百特儀器有限公司成立于1995年,經過近三十年的持續(xù)創(chuàng)新和誠信經營,百特已經發(fā)展成為業(yè)界領先的粒度粒形儀器和技術提供商,百特儀器和技術正在成為國內外材料學專家、應用工程師和廣大科研工作者進行粒度粒形分析的新選擇。百特儀器和技術對納米、微米和毫米級材料,都能得到真實準確的粒度粒形和物理特性分析結果。支撐這些分析的儀器包括百特激光粒度儀、圖像粒度粒形分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、沉降粒度儀、粉體綜合特性測試儀等;支撐這些分析的技術包括98項自研技術(其中發(fā)明2

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