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    全球惟一擁有高濃度ZETA電位測量技術(shù)，并且同時也是已知的惟一的可實現(xiàn)固體和薄膜表面ZETA電位測量的技術(shù)的最新型的儀器----DelsaNano已于2007年10月在北京的BCEIA上首發(fā)并亮相。
    該臺采用FST專利技術(shù)由美國貝克曼庫爾特公司出品的zeta 電位儀及納米粒度分析儀為顆粒特性的表征提供最新的手段，又一次為材料分析領(lǐng)域帶來了技術(shù)突破。同時亦成為美國貝克曼庫爾特公司在顆粒特性分析儀器領(lǐng)域始終處于領(lǐng)導地位的最好注腳。
    欲了解更多關(guān)于最新技術(shù)的DelsaNano的相關(guān)特性及參數(shù)，請立即聯(lián)系貝克曼庫爾特公司顆粒特性分析部門于各地的代表處或瀏覽網(wǎng)站：www.coultercoulter.com