2010年9月27-29日,北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司閃亮登場中國顆粒學(xué)會唯一主辦的粉體/ 散裝行業(yè)盛會—IPB 2010 第八屆國際粉體工業(yè)/散裝技術(shù)展覽會暨會議,展位號1520。此次盛會主要展示了自主研發(fā)的全套JW系列(流動色譜法和靜態(tài)容量法)比表面及孔隙度分析儀,以及組成儀器的關(guān)鍵零部件。
JW系列動態(tài)智能化比表面儀,尤其JW-DA型,是目前國內(nèi)最先進(jìn)的動態(tài)比表面儀,智能化、精度高、速度快、性能穩(wěn),特別適合于電池材料和小比表面材料的測定。此款儀器不但在精美的外觀工藝設(shè)計上吸引了眾多客戶眼球,而且更重要的是在性能技術(shù)參數(shù)上不斷受到客戶的嘖嘖稱贊。
靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀在測試范圍和測試精度上趨近國際水平,部分指標(biāo)已趕超國際先進(jìn)水平。作為中國比表面及孔徑分析儀的最權(quán)威專業(yè)生產(chǎn)商,北京精微高博具有獨(dú)立的自主知識產(chǎn)權(quán),獨(dú)有國內(nèi)領(lǐng)先技術(shù)和高精密分析儀,會一如既往的在物性技術(shù)研究領(lǐng)域開拓創(chuàng)新,不斷推進(jìn)分析儀在各行業(yè)中的廣泛應(yīng)用。