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            丹東百特儀器有限公司

            18 年鉆石會(huì)員

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            BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀

            • 品牌:丹東百特
            • 產(chǎn)地:丹東
            • 關(guān)注度:855
            • 型號(hào):BeNano 180 Zeta Max
            • 報(bào)價(jià):面議
            • 信息完整度:
            核心參數(shù)
            • 儀器原理:動(dòng)態(tài)光散射
            • 測(cè)量范圍:0.3 nm – 15 μm
            產(chǎn)品介紹

            產(chǎn)品介紹


            BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年推出的表征納米體系特性的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。


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            基本性能指標(biāo)


            粒徑檢測(cè)(動(dòng)態(tài)光散射法)

              粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
              *小樣品量  3 μL
              檢測(cè)角度  173 °+90 ° + 11.2°
              分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

            沉降法粒度測(cè)試

              檢測(cè)方法  沉降法
              粒徑范圍  1μm-50μm
              檢測(cè)角度  0°
              樣品量  1-3ml

            Zate電位測(cè)試

              Zeta范圍  無(wú)實(shí)際限制
              電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
              電導(dǎo)率范圍  0 - ≥270 mS/cm
              Zeta測(cè)試粒徑范圍  1 nm – >120 μm  

            分子量測(cè)試

              分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

            微流變測(cè)試

              測(cè)試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

            趨勢(shì)測(cè)試

              模式  時(shí)間和溫度

            濃度檢測(cè)

              檢測(cè)方法  LEDLS
              測(cè)試能力  體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度

            折光率測(cè)試

              檢測(cè)方法  楔形池樣品折射(無(wú)需示蹤粒子)
              檢測(cè)角度  0°
              RI范圍  1.2-1.6
              精度  優(yōu)于0.1%
              *小樣品量  380 μL

            系統(tǒng)參數(shù)

              溫控范圍  -15°C - 120°C
              冷凝控制  干燥空氣或者氮?dú)?/span>
              激光器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm(不同波長(zhǎng)激光器可選)
              相關(guān)器  快、中、慢多模式,*快25 ns采樣,*多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍
              檢測(cè)器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
              光強(qiáng)控制  0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)    



            檢測(cè)參數(shù)


            動(dòng)態(tài)光散射

            ●流體力學(xué)尺寸 Dh

            ●分布系數(shù) PD.I

            ●擴(kuò)散系數(shù) D

            ●顆粒間相互作用力因子 kd

            ●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

            ●計(jì)算分子量

            ●溶液粘度和折射率

            ●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J


            電泳光散射

            ●Zeta電位及其分布

            ●帶電顆粒的電泳遷移率


            透射

            ●透射濁度

            ● 顆粒物濃度

            ●液體折射率

            ●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試


            趨勢(shì)測(cè)試

            ● Zeta電位和粒徑的pH滴定

            ● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試


            靜態(tài)光散射

            ● **分子量Mn、Mw、Mz

            ● 分子量分布

            ● 第二維利系數(shù)A2



            選配件


            動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

            BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào),并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào),得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

             

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            BAT-1自動(dòng)滴定儀

            樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試,具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

             

            image.png             


            BeScan穩(wěn)定性分析儀

            BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

             

             圖片4.png


            相關(guān)技術(shù)    


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            問(wèn)商家

            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀的工作原理介紹?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀的使用方法?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀多少錢(qián)一臺(tái)?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀使用的注意事項(xiàng)
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀的說(shuō)明書(shū)有嗎?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀的操作規(guī)程有嗎?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀有現(xiàn)貨嗎?
            • BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀包安裝嗎?

            相關(guān)產(chǎn)品

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            型號(hào):BeNano 180 Zeta Pro

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            BT-Inline300水下智能激光測(cè)沙儀

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            BetterPyc 380多功能真密度儀

            型號(hào): BetterPyc 380

            面議
            工商信息

            企業(yè)名稱

            丹東百特儀器有限公司

            企業(yè)類型

            有限責(zé)任公司(自然人投資或控股)

            信用代碼

            91210600726837619A

            法人代表

            董青云

            注冊(cè)地址

            丹東臨港產(chǎn)業(yè)園區(qū)金泉工業(yè)區(qū)甘泉路9號(hào)

            成立日期

            2001-02-22

            注冊(cè)資本

            3,000萬(wàn)(元)

            有效期限

            2001-02-22 至 2050-02-22

            經(jīng)營(yíng)范圍

            儀器儀表的制造、銷售、維修服務(wù)、技術(shù)服務(wù)、軟件開(kāi)發(fā)及銷售、電力技術(shù)研發(fā)及技術(shù)服務(wù)、會(huì)議及展覽服務(wù)、設(shè)備租賃、自有房屋租賃;經(jīng)營(yíng)本企業(yè)自產(chǎn)產(chǎn)品及技術(shù)的出口業(yè)務(wù)和本企業(yè)所需的機(jī)械設(shè)備、零配件、原輔材料及技術(shù)的進(jìn)口業(yè)務(wù),但國(guó)家限定公司經(jīng)營(yíng)或禁止進(jìn)出口的商品及技術(shù)除外。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)。)
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            丹東百特儀器有限公司成立于1995年,經(jīng)過(guò)近三十年的持續(xù)創(chuàng)新和誠(chéng)信經(jīng)營(yíng),百特已經(jīng)發(fā)展成為業(yè)界領(lǐng)先的粒度粒形儀器和技術(shù)提供商,百特儀器和技術(shù)正在成為國(guó)內(nèi)外材料學(xué)專家、應(yīng)用工程師和廣大科研工作者進(jìn)行粒度粒形分析的新選擇。百特儀器和技術(shù)對(duì)納米、微米和毫米級(jí)材料,都能得到真實(shí)準(zhǔn)確的粒度粒形和物理特性分析結(jié)果。支撐這些分析的儀器包括百特激光粒度儀、圖像粒度粒形分析儀、納米粒度及Zeta電位分析儀、沉降粒度儀、粉體綜合特性測(cè)試儀等;支撐這些分析的技術(shù)包括98項(xiàng)自研技術(shù)(其中發(fā)明2

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